思考题-XPS.docVIP

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思考题-XPS

武汉理工大学材料学院 学硕班《材料研究与测试方法》思考题 第四章X光电子能谱分析 简述光电子能谱分析的定义和主要类型及其特点。 答光电子能谱分析是一种研究材料表层的元素组成与化学状态的表面分析技术其基本原理用单色射线照射样品使表层原子或分子的内层电子受激并发射成为光电子并测量这些光电子的能量分布然后与已知原子的不同壳层的电子能量相比较确定未知样品表层的元素组成和化学状态 名称 简称发射源 分析粒子 逸出深度 X射线光电子谱 XPS X射线 光电子 成分化合态 紫外线光电子UPS 紫外光 价电子 分子及固体电子态 俄歇电子能谱 AES X射线或电子束俄歇电子 成分 次级离子能谱 SIMS 离子束 二次离子 微区成分 答e(因为它们没有内层能级)之外的其他元素进行定量分析 原理:样品受到X射线辐照后,发射光电子,经电子能量分析器分离,被探测器收集后经过计算机处理,得到该样品的XPS谱图。 原子内层电子结合能的变化可以提供分子结构、电子结构价态等信息 答 当具有一定能量hν的入射光子与样品中的原子相互作用时,单个光子把全部能量交换给原子某壳层上一个受束缚的电子,这个电子就获得了这个能量。如果该能量大于该电子的结合能Eb,该电子就将脱离原来受束缚的能级;若还有多余的能量可以使电子克服功函数W,则电子就成为自由电子、并获得一定的动能Ek,原子本身则变成激发态离子。该过程就称为光电效应。 何谓光电子的逸出几率和逸出深度?其逸出深度由哪些物理参数决定? 答:逸出几率:(用光电截面δ表示)定义为某能级的电子对入射光子的有效能量转移面积,或者一定能量的光子从某个能级激发出一个光电子的几率。 逸出深度光电子在固体样品中不发生非弹性碰撞时逸出的深度几率 答:电子结合能:电子从所在能级转移到费米能级(0K时固体能带中充满电子的最高能级)所需的能量。 逸出功:又叫功函数φ,电子从费米能级跃迁到自由电子能级(真空能级)所需要的能量。 XPS谱图中纵、横坐标标识的含义是什么? 答:横坐标:电子结合能(eV)或者电子动能(eV) 纵坐标:强度,计数率(eps) 何为化学位移?简述氧化过程和还原过程的化学位移规律。 答 氧化作用使内层电子的结合能升高,氧化中失电子数愈多,上升幅度愈大; 还原作用使内层电子的结合能降低,还原中得电子数增加,下降幅度增大; 对于给定价电子壳层结构的原子所有内层电子结合能的位移几乎相同 答:原子 若化合物中有不同电负性的离子取代时,电子结合能会发生位移,取代离子的电负性越大,位移越大。 何谓XPS信息深度?金属材料、无机材料和有机高分子材料的光电子逸出深度范围各是多少 ? 答:当厚度 当厚度 3λ(Ek)被定义为XPS信息深度或XPS分析深度 λ(Ek):金属材料 0.5-3nm 无机材料 有机高分子材料XPS谱中主线如何标记? 简述XPS技术定性分析表层元素组成的步骤。 答J来描述 ,2,3,…….. 通用符号K,L,M,N,O…原子壳层 ,2,3,…….. 通常用 ·总角量子数J=∣l±1/2∣ 原子中的轨道能级取决于n和 如{ 1/23/2 XPS谱线表示为:2P1/2,2P3/2 步骤:a.首先标识那些总是出现的谱线及其卫星线和能量损失线 c.最后标识余下的最弱线要考虑可能是微量元素或杂志的也可能是强谱线的卫星线 d.反复核对无归属的线,想想是否为鬼线,查表核对。 e.当发现一个元素的强光电子线被另一个元素的俄歇线干扰时,看换靶时该线是在结合能标识谱图中是否移动,因为光电子线将不动,俄歇线将改变位置。 XPS谱图除主线还有哪些伴线?并简述各自的产生机制。 答俄歇线当原子中的一个内层电子光致电离而射出后在内层留下一个空穴原子处于激发态要向低能转化一种方式是通过辐射跃迁放出X射线荧光另外一种是通过非辐射跃迁是另一个电子激发成为自由电子该电子成为俄歇电子由俄歇电子形成的谱线就是俄歇线l/Mg Kα1,2射线里混杂着能量略高的Kα3,4,5,6和Kβ射线,它们分别是阳极材料原子中的L2和L3能级上的6个状态不同的电子和M能级的电子跃迁到K层上产生的荧光X射线效应,这些射线统称为X射线卫星线。 鬼线:由靶极材料中杂质引起,又称杂质X射线伴线 振激线和振离线在光电发射过程中由于内壳层形成空位 如果价壳层电子跃迁到更高能级的束缚态,则称之为电子振激,形成振激谱线 如果价壳层电子跃迁到非束缚的连续状态形成了自由电子则称此过程为电子振离形成振离谱线多重劈裂线当原子的价壳层有未成对的自旋电子时光致电离所形成的内层空位将与之耦合使体系出现不止一个终态表现为XPS谱图上即为谱线分裂能量损失线光电子在穿过样品表面时同原子或分子之间发生

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