第九章质谱法前言第一节质谱法之原理第二节质谱图
前言 第一節 質譜法之原理
• 質譜法在原理或儀器上與一般利用電磁輻 • 質譜法是利用適當的離子化方法 ,使試樣
射的光譜法截然不同。質譜法是將試樣離 游離成帶正電或負電的離子 ,再以質量分
第九章 質譜法 子化 ,再分離與偵測不同質荷比(m/z)離子 析器(mass analyzer)分離不同質荷比(mass to
之強度 ,所得到的質譜圖可用於試樣分子 charge ratio ;m/z)的離子 ,並由偵檢器偵測
量與化學結構之解析。 不同m/z值離子之強度 ,以得到有關化合物
第一節 質譜法之原理 • 質譜儀具有高鑑識能力 、高靈敏度、及與 分子量與結構訊息之質譜圖 。
第二節 質譜圖 層析儀高相容性等特點 ,是應用範圍相當 • 質譜分析之首要步驟為試樣之離子化 ,應
第三節 質譜儀 廣泛的分析儀器 。 用之試樣範圍則隨使用之離子源而定 。不
第四節 質譜法相關之分析技術 同離子化方法及其應用之試樣範圍如表9-
1 。
儀器分析儀器分析 梁哲豪梁哲豪 編著編著 儀器分析 梁哲豪 編著 儀器分析 梁哲豪 編著
第二節 質譜圖
• 質譜圖一般以m/z值為橫軸 ,以相對強度為
縱軸 ,如圖9-1 。質譜圖中相對強度之算法
是以最高強度的離子峰當作100 % ,此峰稱
為基準峰 ,其它各離子峰之強度則以相對
於基準峰之百分比表示 。質譜分析最重要
的目的是測定試樣的分子量 ,因此,不同
的離子化方法都是為了使試樣形成分子離
子 ,以從分子離子峰之m/z值求得試樣之分
子量 。
儀器分析 梁哲豪 編著 儀器分析 梁哲豪 編著 儀器分析儀器分析 梁哲豪梁哲豪 編著編著
第三節 質譜儀
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