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基于液晶靶标的多犆犆犇线结构光测量系统全局标定-电子科学技术
第 卷 第 期 光学 精密工程
17 12
Vol.17 No.12
O ticsandPrecisionEnineerin
年 月 p g g
2009 12 Dec.2009
文章编号 ( )
1004924X200912299007
基于液晶靶标的多犆犆犇线结构光测量系统全局标定
贾倩倩,王伯雄,赵博华,罗秀芝
(清华大学 精密仪器与机械学系 精密测试技术及仪器国家重点实验室,北京 100084)
摘要:为了对多 CCD线结构光测量系统进行精确快速的全局标定,研究了一种基于液晶平面靶标的多 CCD全局标定方
法。首先,将液晶靶标放入光平面,在靶标上显示一系列特征点,然后进行各个 CCD同步采集。通过时间序列对应特征
点的图像坐标与靶标坐标,建立起像平面与靶标平面间的非线性模型,对形位关系已知的标准块进行测量,利用标准块
的形位关系对像平面与靶标平面间的非线性模型进行优化,得到像平面与光平面间的映射关系,从而完成多 CCD的全
局标定。利用优化后的标定结果进行测量,结果表明,在自由曲面类物体的测量中,个摄像机的数据拼接精度高,对标
3
准块上特征点距离测量的 误差为 ,角度测量的绝对误差为 。该方法快速简便,适合现场操作,已
RMS 0.217mm ±0.2°
在多 CCD线结构光测量系统中得到了实际应用。
关 键 词:多摄像机;线结构光;液晶靶标;全局标定;优化
中图分类号: ; 文献标识码:
TP391TP212.14 A
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