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- 2017-09-02 发布于天津
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热处理温度对t io 2 薄膜性能的影响 - 武汉理工大学学报
24 6 武 汉 理 工 大 学 学 报 Vol. 24 No.6
2002 6 JOURNAL OF WUHAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY Jun. 2002
: 1671-4431(2002) 06-0001-03
TiO2 *
黄代勇 龚跃球 刘保顺 赵青南 赵修建
( )
: 采用直流反应磁控溅射法在玻璃基片上制备了TiO 薄膜。靶材为纯度99. 9% 的钛靶, 溅射 基片不加热。
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XRD 结果显示, 所得TiO 薄膜的晶型为锐钛矿相; S M 结果显示, 随着热处理温度的增加T iO 薄膜晶粒尺寸增大; 光
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