万克树《材料分析技术》2.3扫描电镜.pptVIP

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  • 2017-07-11 发布于浙江
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万克树《材料分析技术》2.3扫描电镜.ppt

* 样品制备 (3)清洁、预处理: 样品表面要清洁、无粉尘。 含水或易挥发物应进行预处理,磁性材料预先去磁。 为防止假象存在,将试祥用丙酮或酒精清洗。必要时用超声波,或表面抛光。 * 样品制备 (4)侵蚀: 需侵蚀的样品,侵蚀后要清洗、烘干。 (5)复型: 某些情况可采用复型样品。 * 图像解释 SEM的图像是通过像衬度来解释。 图像的衬度反映的信号衬度。 SEM像衬度的形成主要基于样品微区存在差异,使产生特征信号强度差异。 根据衬度形成的依据分为: 形貌衬度 原子序数衬度 * 形貌衬度 由于试样表面形貌差异而形成的衬度。对表面形貌变化敏感的物理信号作为调制信号所得到的像衬度。 信号强度是试样表面倾角的函数,表面微区形貌差别实际上就是其对入射电子束的倾角不同,电子束在试样上扫描时任何两点的形貌差别,表现为信号强度的差别,在图像中形成显示形貌的衬度。 二次电子像的衬度是典型的形貌衬度。 * 形貌衬度 光滑试样表面、入射电子束能量大于1 且固定不变时,二次电子的产额与电子束入射角度的关系为: 为入射电子束与试样表面法线的夹角 入射电子束与试样表面法线间夹角愈大,二次电子产额愈大。 * 形貌衬度 样品看作由许多位向不同的小平面组成。 入射电子束方向固定,试样表面的凹凸不平,对其表面不同处的入射角也不同。 电子束在样品表面扫描时任何两点的形貌差表现为

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