电子测量技术（主编田华、刘斌、袁振东 第二版 西安电子科大版）课件：第9章 数据域分析测试技术02.pptVIP

9.3.2　逻辑分析仪的分类与组成　　1. 逻辑分析仪的分类 　　根据显示方式和定时方式的不同，逻辑分析仪可分为逻辑状态分析仪和逻辑定时分析仪两大类，其基本结构是相同的。 　　1) 逻辑状态分析仪 　　逻辑状态分析仪主要用于检测数字系统的工作程序，并用字符“0”和“1”、助记符或映射图等来显示被测信号的逻辑状态，能有效地解决系统的动态调试问题。 　　逻辑状态分析仪以“0”、“1”字符或助记符显示被测系统的逻辑状态，以便对系统进行状态分析。其状态数据的采集是在被测系统的时钟(对逻辑分析仪来说，称为外时钟)控制下实现的，即逻辑状态分析仪与被测系统是同步工作的。它的特点是显示直观，显示的每一位与各通道输入数据一一对应。状态分析仪对系统进行实时状态分析，即检测在系统时钟作用下总线上的信息状态，从而有效地进行程序的动态调试。因此，逻辑状态分析仪主要用于系统的软件测试。 　　2) 逻辑定时分析仪 　　逻辑定时分析仪用定时图方式来显示被测信号。与示波器显示方式类似，水平轴代表时间，垂直轴显示的是一连串只有“0”、“1”两种电平的伪波形。其最大特点是能显示各通道的逻辑波形，特别是各通道之间波形的时序关系。 　　为了能显示出这种时序关系，在逻辑定时分析仪中提供取样时钟，即所谓的内时钟。逻辑分析仪在内部时钟控制下采集、记录数据，与被测系统异步工作，这是其主要特点之一。为了提高测量准确度和分辨率，要求内部时钟频率远高于被测系统的时钟频率，通常内时钟频率应为被测系统时钟频率的5～10倍。 　　通过对输入信号的高速采样、大容量存储，从而为捕捉各种不正常的“毛刺”脉冲提供新的手段，可较方便地对微处理器和计算机等数字系统进行调试和维修。因此，逻辑定时分析仪主要用于数字系统的硬件调测。 　　上述两类分析仪的显示如图9.1(c)所示，虽然在显示方式、功能侧重上有所不同，但其基本用途是一致的，即可对一个数据流进行快速的测试分析。随着微机系统的广泛应用，在其调试和故障诊断过程中，往往既有软件故障也有硬件故障，因此近年来出现了把“状态”和“定时”分析组合在一起的分析仪——智能逻辑分析仪，这给使用者带来了更大的便利，已成为逻辑分析仪的主流。 　　2. 逻辑分析仪的基本组成　　不同厂家的逻辑分析仪，尽管在通道数量、取样频率、内存容量、显示方式及触发方式等方面有较大区别，但其基本组成结构是相同的。逻辑分析仪的基本组成如图9.3所示,包括数据采集、数据存储、触发产生、数据显示等部分。 图9.3　逻辑分析仪的基本组成框图 　　被测数字系统的并行输入经过多通道逻辑测试探针送至内部比较器，输入信号在比较器中与外部设定的门限电平进行比较，变成高/低逻辑电平后在被测系统时钟(外部时钟)或逻辑分析仪内部时钟的控制下按“先进先出(FIFO)”的原则存入内部高速存储器中。数据存入的起止由触发信号控制。触发信号由触发产生电路产生，触发产生电路根据设定的触发条件在数据流中搜索特定的数据字或触发事件，当搜索到时，就产生触发信号以控制数据存储器开始存储有效数据或停止存储数据。数据显示部分则将存储器里的有效数据以多种显示方式显示出来，以便对采集捕获的数据进行分析。 9.3.3　逻辑分析仪的工作原理　　1. 数据采集　　被测信号首先由逻辑分析仪的多通道探头输入，探头是将若干个探极集中起来构成的，其触针细小，以便于探测高密度集成电路。为了不影响被测点的电位，每个通道探针的输入阻抗都很高；为了减小输入电容，在高速逻辑分析仪中多采用有源探针。每个通道的输入信号经过内部比较器与门限电平相比较之后，判为逻辑“1”或者逻辑“0”。输入的门限电平可由使用者选择，以便与被测系统的阈值电平配合，一般可在±10 V范围内调节。通常门限电平取被测系统逻辑高、低电平的平均值。例如对于TTL器件，其门限电平取为+1.4 V。 　　为了把被测逻辑状态存入存储器，逻辑分析仪通过时钟脉冲周期地对比较器输出的数据进行取样。根据时钟脉冲的来源，这种取样可分为同步取样和异步取样，分别用于状态分析和定时分析。 　　1) 同步取样 　　如果时钟脉冲来自被测系统，则是同步取样方式，只有当被测系统时钟到来时逻辑分析才储存输入数据。 　　2) 异步取样 　　如取样时钟由逻辑分析仪内部产生或由外部的脉冲发生器提供，与被测系统的时钟无关，这种取样方式称为异步取样。内部时钟频率可以比被测系统时钟频率高得多，这样使每单位时间内获取的数据更多，显示的数据更精确。 　　同步取样和异步取样的示意图如图9.4所示。 图9.4　同步取样和异步取样示意图 　　同步取样对于相邻两系统时钟边沿之间产生的毛刺干扰是无法检测的，如图9.4中输入通道2的情况。异步取样时，用逻辑分析仪的内部时钟采集数据，只要频率足够高，就能获得比