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基于PXI仪器的IC直流特性测试译者：广州虹科电子 Sophia关键字PMU, SMU, Parametric, Measurement, Source Measurement Unit, Parametric Measurement Unit, GX5295, GX5055, GX5960, I-V, V-IPMU，SMU，参数，测量，源测量单元，参数测量单元，GX5295，GX5055，GX5960，I-V，V-I摘要Using the GX5295s DC parametric measurement unit (PMU) to perform digital semiconductor device tests.使用GX5295的直流参数测量单元（PMU）进行数字半导体器件测试。?????DC参数测量单元（PMU）也称为源测量单元（SMU），可用两种模式之一对数字设备的输入和输出线执行直流特性测试：?方法1：强制电压测量电流。使用这种方法，PMU提供恒定电压并使用其板上测量能力来测量被测试的器件/引脚所吸取的电流。也可以测量出由PMU提供的电压。?方法2：强制电流测量电压。使用这种方法，参数测量单元要么跨器件强制一个恒定的电流，要么从器件引脚吸收恒定的电流，然后测量合成的电压。也可以测量PMU吸收/提供的电流。本文将介绍如何使用DC参数测量单元（PMU）来对数字设备执行直流特性测试。这里描述的测试可以在从半导体IC到印刷电路板的各种数字设备上进行，并且可以使用Marvintest GX5295 Dynamic DIO卡的内置DC参数测量单元（PMU）功能进行。当在强制电压模式下工作时，GX5295 PMU可以在-2V和+ 7Vdc之间提供可编程恒定电压。 PMU有八个电流范围，可用于强制电流或测量电流模式。这些范围是：-32mA to +32mA.-8mA to +8mA.-2mA to +2mA.-512uA to +512uA.-128uA to +128uA.-32uA to +32uA.-8uA to +8uA.-2uA to +2uA.有关GX5295的更多信息，请访问Marvintest网站。以下术语将解释可以使用PMU测量的一些DUT参数：?VIH：（电压输入高电平）施加到输入端的最小正电压，将被器件接受为逻辑高电平。?VIL：（电压输入低电平）施加到输入端的最大正电压，将被器件接受为逻辑低电平。?VOL：（电压输出低电平）设备认为的输出端的最大正电压将被接受为最大正低电平。?VOH：（电压输出高）设备考虑的输出端的最大正电压将被接受为最小正高电平。?IIL：（低电平输入泄漏）输入为逻辑低电平时测量的输入漏电流。?IIH：（高电平输入泄漏）输入为逻辑高电平时测量的输入漏电流。?IOS（H）：（高电平短路输出电流）输出为逻辑高电平时的短路输出电流。?IOS（L）：（低电平短路输出电流）输出为逻辑低电平时的短路输出电流。输出电压电平测试（VOH，VOL，IOS）输出电压电平测试用于在其指定负载条件下使用时验证数字输出的操作。它们还可用于模拟最坏情况下的负载条件，以观察当输出超出其指定极限时DUT将如何执行，例如当短路到地时。当执行这些类型的测试时，应该选择测试电流范围来严格测试输出，不然会损坏被测器件（DUT）。以下示例显示了如何在数字输出上执行VOH测试。该测试的目的是确保DUT可以在提供其最大额定驱动电流的同时保持高于逻辑高阈值的输出电压。在该测试中，PMU将被编程为从DUT输出吸收电流，模拟负载条件。下图1显示了DUT和GX5295的连接方式。要进行此测试，DUT已通电。一个GX5295通道（本例中为Ch1）用于应用将DUT输出强制为逻辑高电平的输入逻辑电平。由于GX5295通道可以以每个引脚为基准设置为数字或PMU模式，所以施加到输入端的信号类型（逻辑高/低或恒定电压值）将取决于DUT测试策略。第二个GX5295通道（本例中为Ch2）设置为PMU强制电流/测量电压模式，初始灌电流值不会损坏DUT输出引脚。 PMU然后被用来迫使吸收电流从最小到最大测试值。在每个测试电流值时，测量DUT输出电压，以确保其在逻辑高电平范围内。也可以测量实际的PMU测试电流。在输出故障的情况下，这些测量值可用于生成I-V曲线，用于可能的故障查找。此处显示的测试技术也可用于VOL和IOS测试。Figure 1: VOH testing using the GX5295以下GX5295伪代码（ATEasy）显示了如何在上图1中的电路上执行VOH测试/*! Declare the following variables声明以下变量short nMasterNumber??!The number of the master in t