浅谈材料测试方法-Xray-part1.ppt

材料现代分析测试方法 绪 论 材料的组织结构与性能 材料组织结构的影响因素 传统的材料组织与成份测试方法 现代的材料测试分析手段 本课程内容及要求 一、材料的组织结构与性能 材料科学的四大要素 二、材料组织结构的影响因素 显微化学成分（不同相成分，基体与析出相成分，偏析等） 晶体结构与晶体缺陷（fcc，bcc，位错，层错等） 晶粒大小与形态（等轴晶，柱状晶，枝晶等） 相的成分、结构、形态、含量与分布（球、片、棒，沿晶界聚集或均匀分布） 界面状态（表面、相界与晶界） 位相关系（贯习面、孪生面、滑移面） 夹杂物（类型、形态、分布） 内应力（喷丸表面、焊缝热影响区、组织应力） 三、传统的材料组织与成份测试方法 光学显微镜 能直观地观察样品表面形态的工具 （晶粒大小和形状，珠光体或马氏体，铸态组织，…） 分辨率低（200nm），放大倍数低（1000倍） （用于低倍组织形态观察） 只能观察到表面形貌变化 无法获得材料成分的信息 化学分析——湿法化学分析 只能测定试样的平均成分——无法微区分析 测量精度较低——误差较大 无法测量元素分布情况——信息量很少 四、现代的材料测试分析手段 X射线衍射分析 (XRD，X-ray Diffraction) 利用X射线在晶体中的衍射现象进行材料分析的方法 使用的手段——X射线衍射仪 用途：可以分析晶体结构、晶格参数、物相定性分析、物相定量分析、残余应力分析、晶体取向、织构分析 电子显微分析 利用高能电子束作光源，磁场作透镜的一种高分辨率材料分析方法 透射电镜（TEM），扫描电镜（SEM），电子探针（EPMA） 用途：高分辨成像、微区成分、微区晶体 五、本课程内容及要求 X射线衍射分析 X射线的性质 X射线衍射方向 X射线衍射强度 多晶体分析方法 X射线物相分析 宏观应力测定 教材 材料分析测试技术 周玉 武高辉 哈尔滨工业大学出版社 2006年第7次印刷 特点 内容详实，编排合理 附有习题，实验指导书 提供充足数据 第一章 X射线的性质 §1-1 引言（X射线的发展史） 1914年，莫塞莱发现了特征X射线与元素的相关性，建立了X射线光谱学 1916年，德拜发明了X射线粉末照相法 1928年，盖革发明了X射线探测计数器 1938年，哈那瓦特建立了物相分析方法 1943年，富里德曼发明了X射线衍射仪 1970‘s，计算机技术与XRD相结合实现了物相分析的全自动化 X射线的发现和应用使人们对晶体的认识从光学显微镜的微米数量级深入到纳米数量级，对金属的特性才有了更加接近本质的认识。 §1-2 X射线的本质 X射线的特点 1、肉眼不可见 2、具有很强的穿透性 3、可使照相底片感光 4、可使荧光物质发光 5、可使空气电离 6、对生物细胞有杀伤作用 7、电磁场不能使其偏转 8、可通过晶体产生衍射 X射线的本质 是波长为10-8cm左右的电磁波，波长介于γ射线和紫外线波长之间，与晶体的晶格常数为同一数量级。 X射线的性质 1、波动性——可以电磁波的形式在空间传播，具有光的干涉和衍射效应 2、粒子性——可看作由大量不连续的粒子（光子）流组成，具有粒子相互碰撞时的能量交换效应 强调 一定条件下，只能以一种属性为主 两者之间可以相互转换 爱因斯坦关系ε= hν= h c / λ ρ= h / λ h = 6.625 x 10-34 (JS) 由于X射线波长远小于可见光波长，故其能量远大于可见光，表现出很强的穿透性 描述X射线强弱的参量 强度（Intensity）I ——单位时间内通过单位截面积上的能量（J / m2S） 波动性描述 I ∝︱A︱2（正比于波振幅A的平方） 粒子性描述 I = n hν（正比于光子的数量和能量) 绝对强度， J / m2S 相对强度，无量纲 §1-3 X射线的产生及X射线管 X射线发生器（X光管）的构造 X光管电路参数 管电压V（阳极电压），作用在阴极和阳极之间，10-50千伏，使热电子获得很大动能 管电流 i，阴极回路中的电流，几毫安-几十毫安 §1-4 X射线谱 选定某一X光管Z，施加一定管电压V，测量相应X射线的波长λ和相对强度I，由此得到X射线的I - λ关系曲线称为X射线谱 规律1 随着管电压增加，连续辐射包含的曲线面积不断增大，最小波长λ0不断向短波方向发展 规律2 当管电压V大于某个临界值VK时，在某几个波长λ特处出现了窄而尖锐的强度峰