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超大规模集成电路测试技术-中国测试
第 卷第 期 中国测试技术
32 6 Vol.32 No.6
年 月
2006 11 CHINAMEASUREMENTTECHNOLOGY Nov.2006
超大规模集成电路测试技术
朱 莉,林其伟
(华侨大学信息学院物理电子学系,福建 泉州 )
362021
摘 要:随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的
理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的
特点。最后预计了VLSI测试技术的发展趋势。
关键词:测试生成算法;自动测试矢量生成;可测性设计;内建自测试;存储器测试;静态功耗电流
中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( )
TP29 A 1672-4984200606-0117-04
VLSItesttechnique
,
ZHULiLINQi-wei
( , , , )
DepartmentofInformationHuaqiaoUniversityQuanzhou362021China
,
Abstract:Withrapiddevelopmentofthesystem integrationandprocesstechnologyitismoreandmoredifficultto
testtheVeryLargeScaleIntegration(VLSI)circuits.Thetheoryandtechnologyofthetestinghasbecomeoneofthe
,
main aspectsin VLSI.Thispapercomprehensively introduced variousVLSItestingapproachesand analyzed
,
advantageanddisadvantage.AtlasttheauthorsalsoforecastedthedevelopingtrendoftheVLSItestingtechnology.
: ; ; ; ; ;
KeywordsTestalgorithmsATPGDFTBISTMemorytestingIDDQ
类型:()特性测试(验证测试):这种类型的测试在
1 引 言 1
随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大 生产之前进行,目的在于验证设计的正确性,并且
规模集成电路( )测试已经成为一个越来越困 器件要满足所有的需求规范。需要进行功能测试和
VLSI
全面的 测试。()生产测试:不考虑故障诊
难的问题。先进
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