排放管道中二氧化碳自动检测方法－NDIR法.doc

排放管道中二氧化碳自動檢測方法－NDIR法 中華民國96年9月4日環署檢字第0960067332號公告 自中華民國96年12月15日起實施 NIEA A415.71A 一、方法概要 從排放管道中連續抽出氣體，經過濾器、冷卻除水裝置，導入使用非分散性紅外光（Nondispersive Infrared NDIR）為分析器之儀器內，以測定其中所含二氧化碳之濃度。 二、適用範圍 本方法適用於排放管道中二氧化碳濃度之測定，濃度測定範圍由監測系統之全幅（span）來選定，全幅的選擇應視排氣中二氧化碳之濃度而定。監測系統之全幅，應大於可能量測到之濃度，並使二氧化碳之濃度，不低於全幅之20%。 三、干擾 分析儀器之樣品槽（Sample Cell），易受水氣干擾，其干擾會逐漸降低訊號值，應加裝除濕裝置去除干擾。另在二氧化碳吸收波長範圍內會呈現許多干擾物的吸收波峰（如CO、CH4或HC等），定量時要特別注意。 四、設備 本量測系統概圖如圖一，必要之要件如下： ?(一) 氣體採樣管：採樣管材質可為玻璃、不銹鋼、鐵氟龍或相當材質。採樣管必須加熱以防止冷凝。 ?(二) 粒狀物過濾器：在管道內或可加熱（能防止水分冷凝）管道外過濾器，以防止粒狀物堆積在量測系統並延長組件之使用壽命。過濾器必須為和樣品氣體不反應之材質所製造，如硼矽或石英棉、玻璃纖維。 ?(三) 校正閥：三向閥或相當之組件，此裝置在校正模式時能防止樣品氣體導入量測系統，並可從採樣管出口導入校正氣體至量測系統。 ?(四) 樣品管線：可加熱（能防止水分冷凝）之不銹鋼或鐵氟龍管，從採樣管傳輸樣品氣體至水分去除裝置，必要時管線可以快速接頭連接。 ?(五) 水分去除裝置：以空氣冷卻、電子冷卻等相似原理或半透膜原理之水分去除裝置，連續從樣品氣體去除冷凝物並使冷凝物和樣品氣體保持最小的接觸（視需要裝設）。氣體分析儀可以在溼基測定氣體濃度時可不需要水分去除裝置，對這些分析儀需（1）加熱分析儀入口前之樣品管線及所有連結組件防止冷凝（2）使用適當方法測定含水量並校正至乾基氣體濃度。 ?(六) 樣品傳輸管線：不銹鋼或鐵氟龍管，從水分去除裝置傳輸樣品氣體至採樣幫浦、樣品流量控制及樣品氣體歧管。此管線不需加熱。 ?(七) 採樣幫浦：無漏式幫浦，將樣品氣體以足夠之流速通過系統使量測系統應答時間減到最小。幫浦可由任何不和樣品氣體反應之物質組成。 ?(八) 樣品流量控制：含控制閥及浮子流量計或相當之裝置，維持採樣流量固定在 ± 10%以內。（檢驗員可選擇安裝一背壓調節閥（Back-pressure regulator），維持樣品氣體歧管在固定壓力，以保護分析儀避免壓力過大，使需要之流量調整減至最少。） ?(九) 樣品氣體歧管（Sample gas manifold）：使一部分樣品氣體轉向流至分析儀並將其餘的由旁路出口排出。樣品氣體歧管應可提供將校正氣體直接導入分析儀。樣品氣體歧管可由任何不和樣品氣體反應之物質組成。 ?(十) 二氧化碳自動分析儀：任何以非分散性紅外光方式，可連續量測排放管道中二氧化碳濃度之分析儀，分析儀性能規格必須能符合九、(二)之規範。分析儀應可提供控制分析儀氣體流量之工具及適合測定樣品氣體流量之裝置（如準確的浮子流量計、在流量控制器下游之壓力錶等）。將分析儀置於乾淨、熱穩定、無振動之環境可減少分析儀校正時之偏移。 ?(十一) 記錄器：選擇與分析儀可相容之紙帶記錄器或數據擷取系統。 ?(十二) 氣體稀釋器：可將高濃度標準氣體稀釋成所需之校正氣體（非必要之設備，如使用本設備應定期校正）。 五、試劑 ?(一) 二氧化碳標準氣體：以氮氣充填之二氧化碳標準氣體，其品質須能追溯至我國國家或國際標準。製造商必須提供氣體認證濃度及保存期限，並在保存期限內使用。 １、 高濃度校正氣體：濃度相當於全幅80至100%之校正氣體；但亦可使用校正過之氣體稀釋器，以高濃度標準氣體配製之。 ２、 中濃度校正氣體：濃度相當於全幅40至60%之校正氣體；但亦可使用校正過之氣體稀釋器，以高濃度標準氣體配製之。 ３、 其他濃度校正氣體：全幅20%、40%、60%、80%、90%（或近似濃度）之校正氣體；但亦可使用校正過之氣體稀釋器，以高濃度標準氣體配製之。 ４、 中濃度確認氣體：來源或批次不同於校正氣體之標準氣體，濃度相當於全幅40至60%；亦可使用氣體稀釋器，以高濃度標準氣體配製。 ?(二) 零點標準氣體：不含任何可引起分析儀應答（response）或可能與二氧化碳產生氣相反應之物質的氣體。 六、採樣與保存 ?(一) 實際現場檢測時之儀器裝配如圖一所示，校正閥A係用來確認量測系統是否洩漏或污染，其位置應儘可能接近採樣管出口端。 ?(二) 選擇排放管道中氣體流速變化不顯著之位置作為採樣點，採樣管須