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光电测试技术 第四章 光电测试常用器件 光电器件的类型与特点 光电器件的基本特性参数 半导体光电器件 光电导器件—光敏电阻 光伏器件 光电池 光电二极管/三极管 真空光电器件 光电管 光电倍增管 热电检测器件 热敏电阻 热电偶和热电堆 热释电探测器件 1 光电器件的类型与特点 光电效应:光照射到物体表面上使物体的电学特性发生变化. 光电子发射:物体受光照后向外发射电子——多发生于金属和金属氧化物. 光电导效应:半导体受光照后,内部产生光生载流子,使半导体中载流子数显著增加而电阻减少. 光生伏特效应:光照在半导体PN结或金属—半导体接触上时,会在PN结或金属—半导体接触的两侧产生光生电动势。 光电检测器件的类型 光电检测器件是利用物质的光电效应把光信号转换成电信号的器件. 光电检测器件分为两大类: 光子(光电子)检测器件 热电检测器件 光电检测器件 光电检测器件的特点 3.2 器件的基本特性参数 响应特性 噪声特性 量子效率 线性度 工作温度 一、响应特性 1.响应度(或称灵敏度):是光电探测器输出信号与输入光功率之间关系的度量。描述的是光电探测器件的光电转换效率。 响应度是随入射光波长变化而变化的 响应度分电压响应率和电流响应率 电压响应率 光电探测器件输出电压与入射光功率之比 电流响应率 光电探测器件输出电流与入射光功率之比 2.光谱响应度:即单色灵敏度 探测器在波长为λ的单色光照射下,输出电压或电流与入射的单色光功率之比. 3.积分响应度:检测器对各种波长光连续辐射量的反应程度. 4.响应时间:响应时间τ是描述光电探测器对入射光响应快慢的一个参数 上升时间:入射光照射到光电探测器后,光电探测器输出上升到稳定值所需要的时间。 下降时间:入射光遮断后,光电探测器输出下降到稳定值所需要的时间。 表示时间响应选择性的方法: 脉冲响应特性法 入射光亮度阶跃信号 频率响应特性法 入射光辐射的调制频率 二、噪声特性 在一定波长的光照下光电探测器输出的电信号并不是平直的,而是在平均值上下随机地起伏,它实质上就是物理量围绕其平均值的涨落现象。 噪声在实际的光电探测系统中是极其有害的。 由于噪声总是与有用信号混在一起,因而影响对信号特别是微弱信号的正确探测。 一个光电探测系统的极限探测能力往往受探测系统的噪声所限制。 所以在精密测量、通信、自动控制等领域,减小和消除噪声是十分重要的问题。 光电探测器常见的噪声 热噪声 散粒噪声 产生-复合噪声 1/f噪声 1、热噪声 或称约翰逊噪声,即载流子无规则的热运动造成的噪声。 导体或半导体中每一电子都携带着电子电量作随机运动(相当于微电脉冲),尽管其平均值为零,但瞬时电流扰动在导体两端会产生一个均方根电压,称为热噪声电压。 热噪声存在于任何电阻中,热噪声与温度成正比,与频率无关,热噪声又称为白噪声 一些经济的甲类功放在刚开机时,喇叭一片宁静,而升温发热后,噪声就出来了,由于和“热”有关系,人们认为这是“热噪声”。热噪声是指在高于临界温度时,放大器内阻容元件的本底噪声和晶体管的内部散弹噪声,实际上这些“声音”还不能让喇叭工作,那么这些可闻噪声又是从何而来的呢?功放冷态时各级静态电流较小,电源负载较轻,电源纹波和噪波非常小,而达热稳态后,静态电流可增大十倍以上,电源负载加重,纹波和噪波也变得较大,噪声自然就出来了。要证明这一点很容易:1.将电压放大级单独用稳压电源供电,可明显降低“热噪声”,如果已用了稳压电源单独供电,不妨换上容量更大的优质稳压电源;2.用电瓶供电,你会惊奇地发现此时“热噪声”也无影无踪。另外,变压器在负载加重后,其振动和杂散磁场也会增大,对噪声的增大也有“帮助”。因此所谓的“热”噪声和温度确实有关系,但实质主要是电源纹波所致。 2、散粒噪声 散粒噪声:入射到光探测器表面的光子是随机的,光电子从光电阴极表面逸出是随机的,PN结中通过结区的载流子数也是随机的。 散粒噪声也是白噪声,与频率无关。 散粒噪声是光电探测器的固有特性,对大多数光电探测器的研究表明:散粒噪声具有支配地位。 例如光伏器件的PN结势垒是产生散粒噪声的主要原因。 通常所说的三极管中的电流 只是一个平均值,实际上通过发射结注入基区的载流子数目,在各个瞬时都不相同,因 而引起发射极电流或集电极电流有一无规则的流动,产生散粒噪声 3、产生-复合噪声 半导体受光照,载流子不断产生-复合。 在平衡状态时,在载流子产生和复合的平均数是一定的 但在某一瞬间载流子的产生数和复合数是有起伏的。 载流子浓度的起伏引起半导体电导率的起伏。 4、1/f噪声 或称闪烁噪声或低频噪声。 噪声的功率近似与频率成反比 多数器件的1/f噪声在200~300Hz以上已衰减到可忽略不计。 6、噪声

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