X射线粉末衍射的新起点—Rietveld全谱拟合.pdf

第 卷 第 期 ∂ 年 月 °∞≥≥°≠≥≤≥ ∏ Ξ 射线粉末衍射的新起点) Ριετϖελδ 全谱拟合 马礼敦 复旦大学分析测试中心 上海 提 要 全谱拟合法及高分辨 射线粉末衍射实验方法的出现与发展 使 射线粉末 √ ÷ ÷ 衍射进入了一个新阶段 不但提高了分析结果的质量 并且使从头晶体结构测定成为可能 本 ∀ 文扼要介绍了 全谱拟合法的理论 高分辨高准确的粉末衍射装置 从头晶体结构测 √ 定方法及多晶材料结构表征的全谱拟合法 包括作物相定性分析 物相定量分析 晶粒大小及 ! ! 点阵畸变的测定等∀ 一 引 言 ! 射线衍射是人类用来研究物质微观结构的第一种方法 自 2 发明粉 ÷ ∀ ⁄≥ 末衍射以来 已有 年的历史 在这漫长的岁月中 它在研究多晶聚集态的结构 相结构 ∀ ! 晶粒大小 择优取向和点阵畸变等 方面作出了巨大贡献 成为当今材料研究中不可缺少 ! 的工具 有关它的理论 实验方法及数据处理都有过许多的发展 射线粉末衍射全谱拟 ∀ ∀ ÷ 合法是 在 年首先提出的 这一数据处理的新思想与计算机技术相结合 经过 √ ∀ 近三十年的发展不仅提高了传统的各种数据的质量而且使一些原来不可能进行的工作 成为可能 如利用粉末衍射数据作从头晶体结构测定等 其内容越来越丰富 应用面越来 ∀ ∀ 越广 几乎渗入了粉末衍射应用的所有领域 使粉末衍射的数据处理方法起了革命性的变 化 本文将扼要介绍全谱拟合的基本理论及它的一些主要应用 ∀ ∀ 二 粉末衍射全谱拟合的基本理论≈