影像加强技术在微钻头检测之应用-龙华科技大学.PDFVIP

影像加強技術在微鑽頭檢測之應用 影像加強技術在微鑽頭檢測之應用 游國幹 黃國龍 龍華科技大學電子工程系 摘要 目前市面上所使用的微鑽頭檢測儀器都會因為微鑽頭 (Micro-drill)本身品質的影 響，在即時取像時，或多或少都會因為光源反射不良，而使得二值化後的刃面輪廓影像 不夠完整，造成在檢測時無法順利檢出，使得檢測率及準確率降低的情況。本文所使用 的影像加強技術是以區域統計法 (Local statistics)為基礎的影像對比加強演算法結合對數 影像處理 (Logarithmic image processing, LIP)模型 (Model) 來加強影像的對比及銳利度 (Sharpness) 。調整LIP模型中的α參數值，能加強原本影像不夠明亮的區域，使影像的 整體對比加強；調整β參數值，能將影像變得較為銳利。透過這兩個參數的調整，能使 得待檢測的影像在經過二值化轉換時，不會因為光源不佳或微鑽頭本身品質之不良而導 致無法得到完整刃面的圖形，因而提昇微鑽頭檢測儀器的檢測成功率及準確率。 關鍵詞： 微鑽頭檢測，影像加強，區域統計法，對數影像處理。 1.前言 及光源本身有任何角度偏斜的情況時，都 近幾年來，印刷電路板的設計朝向 會使得微鑽頭刃面部份無法完全將光源反 輕、薄、短、小的方向發展，因此所使用 射，因此當 CCD 取像後，容易得到如圖 的微鑽頭之直徑也越來越小以符合鑽孔的 四所示的影像，依 Otsu 方法選取二值化之 要求。以目前台灣印刷電路板市場而言， 門檻值，得到如圖五所示之二值化影像， 主 要 使 用 的 微 鑽 頭 直 徑 為 結果無法完全呈現實際刃面的圖形，造成 0.2mm~0.25mm ，市場佔有率約為50% ， 無法檢出或誤判的狀況。倘若，在 CCD 估計未來兩、三年內，主要使用的微鑽頭 取像時能使用影像加強的方法來加強光源 直徑將會小到 0.1mm~0.15mm ，因此，若 無法完全照射到的地方，必能提高微鑽頭 以人工視覺的方式來檢驗微鑽頭的堪用性 檢測時的檢出率及準確率。若我們使用直 必定會有相當程度的困難。目前市面上關 方圖等化(Histogram equalization)演算法 [2] 於微鑽頭檢驗的設備，其檢測方式如圖一 來將圖四之影像加強，其結果如圖六所 所示，微鑽頭經光源照射後，會將光線反 示，而圖七為其二值化影像，結果顯示直 射至 CCD ，得到如圖二所示之完整的灰階 方圖等化演算法對於微鑽頭影像的加強效 (Gray level) 刃面影像圖形，依Otsu [1]所提 果不如預期，甚至所得到之二值化影像完 的方法得到二值化之門檻值之後，並依此 全無法辨別刃面圖形，所以直方圖等化演 將圖二之影像轉換為如圖三所示的二值化 算法不適用於加強微鑽頭影像，因此我們 影像以供電腦做進一步的檢測。但在執行 選用 G. Deng, L. W. Cahill及 G. R. Tobin [3] 微鑽頭檢測時倘若微鑽頭在製造及再研磨 所提出的一個結合 J. S. Lee [4]的以區域 時有稍微角度的偏差，或是所置放之夾具 統計法(Local statistics)為基礎之影像加強 龍華科技大學學報第二十一期 ,2006.09