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(深圳07_2prn)可靠性预计与分配技术
四、可靠性预计与分配
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4.1 可靠性指标预计概述
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4.1.1 可靠性预计的目的意义
定量地预测其可靠性水平, 以判断设计方案能否满足可靠
性指标的要求。
简化电路,减少元器件用量
优选元器件,不用或少用高失效率的元器件
通过预计使降额措施发挥最大效益
有助于预防过应力使用元器件
为制订产品可靠性试验计划提供定量依据
为优选元器件及合理使用元器件提供指南。
通过可靠性预计结果,估算各种费用
中立机构进行可靠性预计,预测产品的寿命,增强产品的
竞争力。
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4.1.2 可靠性预计常用的标准
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可靠性预计的历史
• 在第二次世界大战中,为了能对系统可靠
性进行量化评估,美国政府采购部门着手
建立一种标准化的方法来制定需求规格和
预测过程。因为如果没有标准化,每个供
应商的预测就会基于他们各自的数据。这
样,对于一个由不同供应商生产的元器件
组成的系统,不仅将难以评估其可靠性预
计,而且对于同样功能的元件或系统的不
同设计之间的比较也造成了困难。
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• 可靠性预计标准可以追溯到1956年11月。那时
RCA发布了以“ 电子设备的可靠性应力分析”为题
的TR-1100标准。该标准介绍了元器件失效的计
算值模型。此后,美军方于1962年公布了MIL-
HDBK-217,当时预计手册有关元器件失效率数
据不管元件属何类,都采用统一的K系数。事实上
不同的环境对于不同元器件的影响并不完全相同
。因此美国于1965年对MIL-HDBK-217进行了重
大的修改,在MIL-HDBK-217的基础上改订成
MIL-HDBK-217A。MIL-HDBK-217A不是给出一
个统一的K系数,而是对每种元件分别确定K系数
。
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• 随着可靠性工作的深入发展,人们发现产品的失
效率不仅与环境有关,而且与产品的质量及其失
效模式有关,因此美国于1974年又将MIL-HDBK-
217A修订为MIL-HDBK-217B。MIL-HDBK-217B
的显著特点是增补了各种元器件,特别是新型元
器件的失效模式,给出了元器件失效率的数学式
。MIL-HDBK-217B中通常用系数来表示各种因素
。MIL-HDBK-217的这些改进,为以后各种数据手
册的编制奠定了基础。在MIL-HDBK-217B的基础
上美国于1979年4月出版了MIL-HDBK-217C,于
1982年1月出版了MIL-HDBK-217D,到现在为止
,最新的版本是MIL-HDBK-217F Notice II。
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• 其后,衍生出许多与MIL-HDBK-217手册十
分相似的可靠性预计手册,比如Bellcore的
TR-TSY-000332、CNET、HRD和西门子
手册,能比较快捷地估计电信类产品的可靠
性,满足了电子产品预计的需求。
模型 说明
MIL-HDBK-217 原商业和军用电子元器件的全球标准
(MIL-STD-217 )。
Telcordia SR-332
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