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《现代材料分析技术》第一章x射线物理学基础
第一章 X射线物理学基础 ◆ X射线的性质 ◆ X射线的产生及X射线谱 ◆ X射线与物质的相互作用 3. X射线管构造 二.特征(标识、单色)X射线谱 2.产生机理: 莫塞莱定律: 3.特征X射线谱的类型 4.特征X射线谱强度 §1.3 X射线与物质的相互作用 X射线与物质相遇,发生透射、吸收、散射.因吸 收、散射使穿过物质的X射线强度减弱. §1.3.1 X射线与物质的相互作用 一.?? X射线的散射 1.相干散射----衍射基础 X射线与物质原子内层电子相撞,入射光子的能 量全部转给相撞电子,在X射线电场作用下,产生强 迫振动,电子成为新电磁波源,向四周辐射与入射光 子等波长的电磁波. 由于电子间间距恒定,即同一方向各电子辐射的 等波长X射线位相差恒定.这样在任一方向,各电子 辐射的X射线符合光学干涉条件.在一些方向干涉波 相互减弱,或抵消,有些方向相互加强. 2.非相干散射(康普顿---吴有训效应) 二、X射线的真吸收 1.光电效应. 当入射光子的能量等于或大于碰撞体原子某壳层电子的结合能时,光子被电子吸收,获得能量的电子从内层溢出,成为自由电子,即光电子,高能量层电子填补激发态空位,能量差以X射线形式辐射,称为荧光或二次标识X射线,该现象称为光电效应. 产生条件---入射X射线的波长要求(短波限): 2.俄歇效应 高能量层电子填补激发态空位,能量差被空位层邻近电子或较外层电子吸收,使该电子受激发逸出原子成为自由电子,即俄歇电子。 注:①入射时, 发生光电效应或俄歇效应 ,入射线大量吸收. ②同元素的阳极靶发出的特征线,不能激发同物质的同系特征X射线 ③物质表面辐射的荧光X射线、俄歇电子反映了物质被照射区的化学成分固有特性。用于物质表面成分分析。 三.X射线的衰减规律 X射线通过物质时,因散射、光电俄歇效应、热效应,使沿入射线方向强度减弱。 质量吸收系数--- §1.3.2吸收限的应用 一、滤波片的选择 作用:滤去 线 ◆滤波材料吸收限λk: ◆滤波片厚度: 二、阳极靶的选择 荧光X射线增加晶体衍射花样的背底,光源 与分析样品间不希望发生光电效应.要求: 滤波片的选择 根据靶元素来定 当Z靶<40时 当Z靶≥40时 ① 取决于吸收物质的原子序数和入射线波长 ②穿过两种以上元素组成的物质时 且 尽量靠近 ≈1/500,此时, 强度减1/2 左右.此时,利用 查滤波片的 , 可估算其厚度x 如研究纯铁,宜用CO或Fe靶, 不用Ni Cu靶。 * * 1895年德国物理学家伦琴在研究阴极射线时偶然发现,当时仅知其强穿透性、不可见性, 不了解其性质,故称X射线(伦琴射线).至1912年德国劳埃发现X射线在晶体材料上的衍射现象,证实X射线是一种波,同时也诞生了X射线衍射分析技术. §1. 1 射线的性质 1.1.1 X射线的本质------电磁波 1. 波长 介于紫外线、γ射线之间,0.001-10nm或0.01-- 100A0-晶体衍射: 0.5—2.5 A0,金属无损探伤:0.05--1 A0.短波长---硬X射线,反之-----软X射线. 电磁波是“横波”, X射线传播方向垂直于磁场、电场振动方向,以光速直线(C=3×108m/s)传播.因磁场分量在与物质的相互作用中效应很弱,所以在衍射分析时,仅考虑电场分量.一束沿X方向传播、波长为λ的X射线波方程: A=A0COS2(x/λ-νt), 或A=A0COS(ф-ωt) 或A=A0ei(ф-ωt). 2.由交替变化的电场和磁场组成 1.2 X射线的性质 1.?? 不可见、强穿透性 2.??? 波粒二象性波动性:一定的波长或频率在空间以光速直线传播.ν= c/λ.粒子性(微粒性): X射线是由大量以光速运动、且不连续的的粒子(光子)流组成,每个光子的能量为:?=h c/ λ.(h:普朗克常数6.625×10-34J*S)X射线强度:单位时间通过垂直X射线传播方向的单位面积的光子能量总和. I= n. ? ∝A02 (n:单位时间穿过单位面积的光子数) §1.2 X射线的产生及X射线谱1.2.1 X射线的产生及X射线管1. X射线产生的条
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