石墨量热计测量相对论电子能谱的数值模拟.pdfVIP

第22卷第4期 强 激 光 与 粒 子 束 V01．22，No．4 2010年4月 HIGHPOWERLASERANDPARTICLEBEAMS Apr．，2010 文章编号： 1001—4322(2010)04—0918—05 石墨量热计测量相对论电子能谱的数值模拟。 张信军， 王亮平， 呼义翔， 吴撼宇， 李 岩 (西北核技术研究所，西安710024) 摘要： 采用数值实验的方法对石墨量热计测量电子能谱的过程进行了模拟，并对解谱方法进行了研 究。使用MCNP软件建立了实验模型，根据不同能量入射电子能量沉积分布情况确立了入射电子能量一沉积 能量的传递函数，研究确定合适的函数求解方法，并采用添加人为扰动的方式对该函数求解方法的可靠性进行 分析，最终得到了有效的解谱方法。 关键词： 石墨量热计} 相对论电子能谱； 数值模拟； 电子参数诊断； 病态方程 中图分类号：TL818；TNi01文献标志码： A doi：10．3788／HPLP0918 强流相对论电子束的能量参数是表征加速器性能的重要参数，它对改善强流加速器二极管参数有着重要 的意义。电子束能量参数诊断方法通常有两类，即在线测量和非在线测量[1]。前者常用金属箔或丝散射电子 束，然后用分析器分析电子参数。该方法优点是不影响束的传输，但容易损坏。非在线测量即直接用分析器测 量电子束参数，该方法易于实现，但阻断了束的传输。非在线测量方法可分为磁谱法和量热法。磁谱法利用的 是电子在均匀磁场中的色散特性，由电子在出口处的位置、像宽及磁场强度即可计算出束流能量及能谱。该方 法有过不少研究，应用较多¨。3]。量热法通过测量电子在物质中的能量沉积深度分布来求得电子束能量参数。 该方法主要用来推算电子柬的最大电子能量和有效能量等参数，也可用来测量总束能H‘5]。由于受工艺水平限 制，该方法测量电子束能谱的精度并不高。对于强流电子束而言，其束流表面磁场可与磁谱仪磁场同量级，容 易干扰磁谱仪磁场分布，造成较大误差。这种情况下，选用不受磁场影响的量热法效果更好。本文通过MC— NP数值实验的方法对薄片量热计阵列测量电子柬能谱的过程进行模拟，力求得到有效的解谱方法。 1 测量原理 电子与吸收物质相互作用时将全部或部分能量沉积到吸收物质中，若不发生不可逆化学反应，这部分能量 终将转化为吸收物质的热量，导致该物质温度升高。薄片量热计通过测量不同薄片吸收体的温升来得到电子 束的能量沉积深度分布，进而求得入射电子束的能量参数。量热计材料一般使用石墨，因为它有着极为优良的 耐高温特性。 图l给出了薄片量热计示意图。该量热计由多个纵向平行排列的薄片吸收体组成，电子束垂直入射到薄 片量热计阵列上，在各个薄片吸收体中产生能量沉积，测出每个薄片的能量沉积就可以得到电子束在该物质中 的能量沉积深度分布曲线。假设已知各单能电子的吸收曲线 ^(n一1，2，3，…，N)，并且实验得出入射电子束的吸收曲线 Y，则可以用^来拟合Y，而^的系数C表征了入射电子能 谱。设矩阵 ^，1 fN，、 厶．z fN，2 A=[^，^，…，A]= ●●● ●●● 臣 厂z．。 fN．。 一一一一一～ 则以上关系可以表示为 absorbers array calorimeter Schematicofslice array AC=y (1) Fig．1 diagram 即入射电子的能谱可以通