试验一门电路逻辑功能测试与组合试验报告内容.PPT

主讲 教师：周婷 实验一 仪器的使用和门电路的测试 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验目的 熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法。 认识集成电路的型号、外形和引脚排列。 掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法。 掌握TTL器件的使用规则。 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验原理 各种门电路的逻辑功能 与门真值表 或门真值表 非门真值表 与非门真值表 A B Y 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 A B Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 A Y 0 1 1 0 A B Y 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 或非门真值表 异或门真值表 TTL电路特点：驱动能力强，功耗大，工作电源为5V；当输入端悬空时，输入为”1”态。（当输入端是高电平时可以悬空处理，仅适用于小规模集成电路，大规模集成电路输入端悬空时易受到干扰。） COMS电路特点：功耗小，驱动能力较小，工作电源为3～18V，输入端不允许悬空。 我们实验中用到的芯片是TTL电路，用5V的工作电源都可以满足。芯片管脚号码排列：芯片型号上的字头朝上，一般左边有个半圆形的缺口，缺口下面的管脚为1号管脚，沿着逆时针方向，依次为2、3、4……如果是14管脚的芯片，下面一排管脚依次为1～7号（从左往右），上面一排依次为8～14号（从右往左），如图1-1所示。 A B Y 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 A B Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 0 输入 输出 Y u0 0 1 实验仪器与器材 数字实验箱、示波器、万用表、74LS00、74LS08、74LS04、74LS32 实验内容和步骤 1.与非门（74LS00）逻辑功能测试 （1）逻辑功能测试 将74LS00与非门插入空集成电路插座上。器件的插入方法一般是将有标记（凹槽）的一侧插在左边，无标记的那侧插在右边。逻辑开关接与非门输入，输出端接发光二极管，灯亮为1，灯不亮为0。以下均与此相同。验证74LS00的逻辑功能Y= ,并用万用表测量高、低电平，将结果填入下表： *(3)用与非门组成其他门电路（写出设计过程并画出电路） 自拟实验步骤和表格，测试其逻辑功能。 ①用与非门组成非门。 ②用与非门组成2输入与门。 ③用与非门组成2输入或门。 ④用与非门组成2输入或非门。 （2）动态逻辑功能测试 动态逻辑功能测试如图1-2所示。 ，将频率等于1kHz，幅度等于5V的方波，送入与非门输入端ui，当控制端Y分别加上逻辑0和逻辑1电平（Y接至数据开关），用双踪示波器同时观察ui、u0波形，比较两者的相位，体会控制端作用。将结果填入下表。 *(3)用与非门组成其他门电路（写出设计过程并画出电路） 自拟实验步骤和表格，测试其逻辑功能。 ①用与非门组成非门。 ②用与非门组成2输入与门。 ③用与非门组成2输入或门。 ④用与非门组成2输入或非门。 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 注意事项 5. 闲置输入端的处理：（不要悬空，不然会产生干扰，影响实验结果，对 CMOS电路输入引脚悬空时容易损坏。） 对于与门/与非门：应接高电平，也可并联（不可超出前一级门的扇出能力），不可以接低电平。A=A?1 对于或门/或非门：应接低电平，也可并联（不可超出前一级门的扇出能力），不可以接高电平。A=A+0 对于其他类型电路，以不影响逻辑关系为原则接不同电平，建议少用并联法，以防止前级电路驱动能力不够。 在实验箱上接线时，先画出原理图，标上接线的引脚号，按图接线。 做完实验，需经老师检查实验结果，最后关闭电源，将实验箱整理好，才可离开。 上实验课前，必须预习并写好预习报告，实验时记录好原始数据，实验完成后认真写好实验报告，做下次实验前交上，一份也不能少。 实验箱介绍  LED指示灯 逻辑电平指示灯 插槽 单次脉冲 连续脉冲 电源 逻辑开关 实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验箱使用  电平(数据)开关 电平指示 1号脚 4    实验一 门电路逻辑功能测试与组合 实验报告内容 实验目的、内容、画出逻辑电路图。 在电路图上标明接线时使用的集成块名称和引脚号，作为实验接线图。 按照实验操作过程记录、整理实验内容和结果，填好测试数据。分析、确认实验结果的正确性，说明实验结论。 对门电路转换实验，要求写