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忆阻逾渗导电模型中的初态影响.PDF
See discussions, stats, and author profiles for this publication at: /publication/272354031
Effects of pristine state on conductive
percolation model of memristor
Article in cta Physica Sinica -Chinese Edition- · May 2013
DOI: 10.7498/aps.62.096401
CIT TIONS RE DS
6 28
1 author:
Zhiwei Li
National University of Defense Technology
5 PUBLIC TIONS 10 CIT TIONS
SEE PROFILE
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物理学报 Acta Phys. Sin. Vol. 62, No. 9 (2013) 096401
忆阻逾渗导电模型中的初态影响*
†
李智炜 刘海军 徐欣
( 国防科学与技术大学电子科学与工程学院, 长沙 410073 )
( 2012 年12 月5 日收到; 2013 年1 月6 日收到修改稿)
逾渗网格模型是当前忆阻器件机理分析研究领域的热点之一, 但现有模型缺乏对初态设定的讨论. 本文对逾渗
网格模型进行了简化, 并基于此, 通过电压激励步进的方式, 研究了不同初态对单极性忆阻开关元件中逾渗导电通
道形成的影响, 分析了形成通道的动态过程以及相应的物理意义, 验证了忆阻开关元件高低阻态的阻值实际表现为
高斯分布而非理想双值稳态; 而不同初态条件下, 忆阻开关元件导电通道的形状存在着不同的“树形” 结构, 进而影
响着其阻值的分布. 研究成果有助于进一步揭示忆阻器尚未明确的导电机理, 为今后对具体不同类型的忆阻元件的
初态分析提供指导性作用.
关键词: 忆阻器, 开关元件, 逾渗模型, 初态分析
PACS: 64.60.ah, 85.35.−p, 89.20.Ff, 84.37.+q DOI: 10.7498/aps.62.096401
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初态设定的讨论; Prodromakis 等 则进一步利用
5
1 引言 该逾渗模型去解释惠普实验室的离子迁移模型 ,
并讨论了稳态时候导电通道的个数和路径形状等
随着微纳电子技术的发展, 人们发现一些有着 方面对开关阻值比的影响, 但他们同样没有讨论模
形如金属/绝缘层/金属(MIM) 结构的器件在外加激 型中初态因素可能产生的影响, 而且也没有像Lee
励下, 呈现出高、低两种稳态电阻值相互更替的现 等那样利用模型对导电通道的形成过程进行描述.
象1−3 . 这类物理器件的电压电流本
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