一个红外测温仪的综合性能指标.PDF

22 3 Vol. 22 No. 3 1998 6 Journal of Nanjing University of Science and Technology Jun. 1998 X XX 尹达人 ( , 210094) 该文提出一个红外测温仪的性能指标, 它是判断测温仪调制系统优劣的综 合指标。借助 平行光管, 测温仪的焦面被扇形调制盘调制, 经探测器接收, 然后测 量输出信号的频谱。上述综合性能指标, 能从所测频谱中计算而得, 它是由扇形调 制盘等宽精度及扫描园的同心度等因素决定。 红外辐射, 红外测温仪, 频谱; 红外技术 TN 21 , , [ 1] , 1 HCW- 1 , 3 1 % , , 1 % 1 , , , , 表1　红外测温仪性能指标 Table 1　 erformance specification of infrared radiation theremometers 研制单位 型　　号 测温范围( + / ℃) 精度及误差 昆明物理所 HCW500-IA 0 ～500 ±1 % 西 北光学仪器厂 HCW-1 0 ～300 ±5 % 华北光电所 HWSS 800 ～1400 ±1 % 云南仪表厂 Q 系列单卡 400 ～2500 ±1 % 上海技物所 84 ～1 700 ～200 1. 5% 1 [ 2] [ 3] : X 1996 10 12 XX 58 98 253 p (t ) = kQ (f x ,f y )R * (f x ,f y ) exp{ 2Pj [f x x (t) + f y y (t ) ] }df x df y ( 1) - : 2P p (t ) = Q ( Q, U)R * ( Q, U) exp{2Pj QF(t) cos[U- H(t ) ] } QdQdU (2) 0 0 : P (f ) = p (t ) exp( - 2Pj f t ) dt ( 3) - , ( x , y ) ( , ) Q f f Q Q U ,R (f x ,f y ) R ( Q, U) ,x (t ) ,y (t) F(t ) , H(t ) X , ( ) = , ( ) = (4) F t l H t Xt