FPGA芯片测试方法研讨.pdf

摘要 摘要 FPGA是目前广泛使用的一种可编程器件。由于FPGA电路规模大，结构 复杂，高覆盖率的自动化测试一直是FPGA设计与生产上的难点。测试一种 FPGA结构需要大量的时间设计测试方案，测试成本很高，虽然研究者在这方面 做了大量的工作，但仍依赖于很多的手工测试方法。 本文的主要工作首先提出了一种针对FPGA互连资源开路故障的测试算法。 该算法在FPGA布线算法的基础上发展而来。该方法首先建立测试资源图，通 过事先规定的输入输出端口，运行算法，使其在测试资源图上经过尽可能多的资 源节点，以便生成尽量少的测试配置文件。对实际芯片FPGA一1进行了测试， 160个测试配置文件能够覆盖测试99．59％的互连资源。 接着本文提出对于FPGA芯片的测试，仅仅测试开路故障是不够的。为了 对FPGA芯片进行完备的测试，本文提出了一种与芯片结构无关的测试算法。 该方法通过建立布线资源图，根据线网的走向动态设定各边的权重，然后利用改 进的Kruskal算法，自动生成测试配置集。对于FPGA不同的互连结构，该方法 能够对互连资源中的开路和短路故障达到100％的覆盖率，且测试配置个数少， 运行速度快，与具体硬件结构无关。 关键词： 现场可编程逻辑阵列， 芯片测试，自动化， 故障类型 Abstract ㈣Y…Ⅲ1 ㈣9㈣6㈨7哪7㈣6Ⅲ4 Field Gate are programmable ProgrammableArrays(FPGAsJ forlotsof testisadifficultunsolved platforms applications．FPGA duetothe ofFPGAarchitecture．Toatest problem complexity design andaIatof foraFPGAarchitecturecosts time money． procedure long in researchershavedoneSOmuchworkthisarea，this Althoughmany intheFPGA isnot automated processfully yet industry． This anoveltraverse forthe proposes algorithmtargeted paper Interconnect faults．The detectionof open ProgrammablePoints(PIPJ hasbeen basedontherouter proposedalgodthm developed ofFPGA．Itfirstbuildsthetestresource