第七章 测试系统可靠性.pptVIP

* 第七章 测试系统可靠性理论 一．基本概念 测试的两项基本要求为可测试性和测试确定性。这两项要求只有在测试系统正常工作的情况下才能实现。但有故障发生时，测试任务就不能正常实现，有时还产生误测。 测试系统的可靠性是指测试系统在规定的时间内和在规定的条件下完成规定测试功能的能力。是一个与时间有关的概念，时间愈长，可靠性愈低。 提高测试系统可靠性的措施主要有——元件降额和筛选、自检技术、容错技术、抗干扰技术。 1、可靠性和失效 测试系统失效是指测试系统在规定的使用期内丧失规定测试功能的现象。 要对可靠性进行定量分析，必须给出可靠性和失效的定量参数，其中主要是可靠率R(t)和失效率λ(t)。 2、可靠率 可靠率是在规定时间t内和规定条件下可完成规定功能的概率。 设在t=0时，共有n0个系统在正常运行。到t 时还能正常运行的系统有n(t)，则可靠率为 显然具有： 3、失效率 失效率是系统运行到t 时刻时，在单位时间内失效的系统数占当时正常运行系统数的比率，即 由n(t)=n0R(t)得 对上式两边积分，得 这样建立了可靠率与失效率之间的关系，是可靠性计算的基本公式。 测试系统的失效率随时间而变，具有浴盆状曲线： 早期失效阶段 正常运行阶段 耗损失效阶段 4、MTTF与MTFF n0个系统的平均寿命即平均正常运行时间为 相当于R(t)曲线下面所包围的面积，此面积与宽为mt高为1 的矩形面积相同，如图 对不可修复的系统， mt为失效前的平均时间MTTF——mean time to failure 对可修复的系统， mt为首次失效前的平均时间MTFF——mean time to first failure 失效率为常数 5、可靠性与经济性 二．可靠性计算 S1 S2 Sn 1、串联系统 由n个子系统或n个元件S组成，只要其中任意一个失效，系统即失效 串联系统的可靠率为 串联系统的失效率为 2、并联系统 S1 S2 Sn 由n个子系统或n个元件S组成，只要有一个系统或元件有效工作，系统即能正常工作 并联系统的可靠率为 S11 S12 S1m Sn1 Sn2 Snm S21 S22 S2m 3、串并联系统 由n个子系统并联组成，每个子系统又有m个元件串联组成 串并联系统的可靠率为 4、(N，K)系统 (N，K)系统共有N个元件，其中至少有K个元件正常工作，系统才能正常工作。设各元件的可靠率为R，则 显然，(N，N)系统是一种串联系统，(N，1)是一种并联系统 三．元件的降额与筛选 系统由元件组成，元件可靠性是系统可靠性的基础。元件的降额选用和筛选是提高元件可靠性的有效措施。 降额是指元件在低于其额定值的应力条件下工作。例如1W的电阻在0.25W条件下工作。 1、元件降额 合理的降额可显著降低元件的失效率。如电阻的失效率与电应力的关系为 S为电应力即工作功率与额定功率之比。 如当T=45时，S=0.6时的失效率仅为S=1时的1/20。 2、元器件的筛选 筛选的目的是从一批元器件中选出高可靠性的元器件，淘汰有潜在缺陷、可靠性低的元器件。 筛选要在加温、通电、振动等模拟工作状态下进行，这样可使失效率高的元器件的早期失效阶段提前出现而被淘汰。 提高元器件的质量，会导致成本提高。用筛选方法剔除劣质品是减少劣质品经济而有效的办法。 筛选对生产质量和成本有重大影响，筛选技术也较复杂。因此，筛选是生产的重要环节，不少企业视为企业机密。 四．自检技术 1、自检的目的 自检的目的是发现测试系统的故障，以提高测试可靠性。 设测试系统的可靠率为R1，自检系统的可靠率为R2，只有当测试系统和自检系统都有故障的情况下，测试系统才会出现故障运行，导致误测， 因此配有自检系统的测试系 统的可靠率为 2、自检的技术指标 自检的技术指标主要有： (1) 自检水平 根据对故障的判断和处理水平，自检分五个等级 a、不进行自检 b、只判断有无故障，不确定故障部位，不进行隔离 c、非自动隔离故障，提示信息，操作者判断故障部位 d、自动故障隔离 e、自动故障隔离并修复或更换 (2) 覆盖率 自检覆盖率是进行自检的元件或子系统所占百分比。重点自检可靠低的元件或子系统，以降低成本。进行自检的各元件的子系统可以有不同的自检水平。 冗余度是自检系统用元件占元件总数的百分比。反映了自检的代价。 (3) 冗余度 (4) 自检系统可靠率 (5) 自检速度 3、自检方法 根据自检的时间，自检可分为 离线自检（脱机