[化学]第四章 X射线衍射实验方法2011.ppt

2.2 衍射图像的记录 2.测角仪 光学几何 五 实验条件选择—实验参数 防散射光栏与接收光栏应同步选择。选择宽的狭缝可以获得高的X射线衍射强度，但分辨率要降低；若希望提高分辨率则应选择小的狭缝宽度。 时间常数。选择时间常数RC值大，可以使衍射线的背底变得平滑，但将降低分辨率和强度，衍射峰也将向扫描方向偏移，造成衍射峰的不对称宽化。因此，要提高测量精度应该选择小的时间常数RC值。通常选择时间常数RC值小于或等于接收狭缝的时间宽度的一半。时间宽度是指狭缝转过自身宽度所需时间。这样的选择可以获得高分辨率的衍射线峰形。 扫描速度是指探测器在测角仪圆周上均匀转动的角速度。扫描速度对衍射结果的影响与时间常数类似，扫描速度越快，衍射线强度下降，衍射峰向扫描方向偏移，分辨率下降，一些弱峰会被掩盖而丢失。但过低的扫描速度也是不实际的。 1.需要有准确的峰位置(2θ) 要求峰形窄(可定位准确)，不位移。 1). 粉末的颗粒度适中。在10μm左右； 2). 结构完美。不存在使衍射线加宽的各种微缺陷，如应力、位错等。如试样经过研磨等处理，则需做适当时间的退火，以消除或减少各种缺陷； 3). 满足聚焦条件。聚焦良好就可使峰形窄、峰位置准确，故上述满足衍射几何的各项措施也是需要满足的。 2.需要有准确的积分强度(I) 要晶粒尺度比较均匀，没有大晶粒，并且数量足够多，还要求取向分布均匀。 ⊙大晶粒的衍射强度会比较强； ⊙晶粒数量足够多就保证衍射圆锥各母线方向有相同的反射晶粒数，相同的反射强度； ⊙晶粒取向分布不均匀，形成择优取向。使衍射矢量相对集中在某些方向。 以上因素都使衍射圆锥的强度分布不均匀。 3.需要有准确的衍射峰形(G) 每一测量点处的衍射强度(Y)都要准确，即2θ和对应的Y都要准确，也即强度分布(峰形函数)要准确。 ☆需满足聚焦条件，避免择优取向等。 ☆不可对试样做研磨等处理，以避免因改变微结构使峰形畸变。 四. 制样方法 背压法： 正面紧密光滑。试样表面可准确 与测角器轴相切。 适用于一般情况及需获得准确的峰位置(2θ)时。 择优取向比较严重，衍射强度不准。 为降低择优取向，可在玻璃与试样板间放一块平整的高标号金相砂纸。砂纸表面存在幅度很小的凹凸，落入凹陷处的试样颗粒不易在压制时改变方向，从而减少了择优取向。 2. 正压法： 用于试样量较少时 用不穿透的玻璃试样板。形状与普通板相同，槽深度据试样量选用。 试样表面不如背压法光滑平整，不易与试样板的表面完全吻合(应尽量减少这种不平整和尽量吻合)。 3. 侧装法或顶装法： 试样槽的一侧或顶端不封闭，旁夹两片玻片，从开口处倒入样品，压紧即成。 用来减少择优取向，形成的择优取向会较背压法或正压法小许多。 移去玻璃平板时当心样品松脱。 4. 撒样法： 试样板为一块无槽平板。材料为不会产生衍射或仅在非常高的θ角产生衍射的固体。常用有非晶硅片、非晶石英片或表面为高指数点阵平面的单晶硅片等。 试样的厚度是可控的。试样厚度可忽略。 ☆样品用量少、择优取向小、但衍射强度低、分辨率较差。 5. 填料法 将形状近球形、不会产生衍射或衍射线不多、且不会与待测物衍射线重叠的物质以一定比例与待测样混合填入试样板。其作用 (1). 用来减少择优取向。填料颗粒近球形，制样时阻档样品颗粒改变方向，就不易生成择优取向。 (2). 用来增加吸收。高吸收填料可减少X射线的透入深度，减少深度衍射，提高分辨率。 填料降低单位体积中的样品量，使衍射强度减弱；填料的散射线会提高本底，降低信噪比。 * * 第四章 多晶体X射线衍射分析方法 一、粉末Ｘ射线衍射的原理 以粉末状的结晶、块状多晶体作为对象的Ｘ射线衍射称为粉末Ｘ射线衍射法 2θ 2θ 入射Ｘ射线 Ｄｅｂｙｅ环 粉末样品 粉末多晶体衍射的图解 根据厄瓦尔德图解原理，粉末多晶体衍射的厄瓦尔德图解应如图所示。根据实际晶体与理想晶体的差异，微有取向差的各小晶粒或亚晶块，会在θ±Δθ范围内参与衍射。 O O* S0/λ 90o-θ 倒易球 Δθ S/λ 反射球 用单色X射线照射单晶体的一组晶面时，会产生一条衍射线OP，在底片上产生一个点。如果绕OO*轴旋 转这组晶面， 则会以OP为母线画出一个圆锥。从实验角度以上旋转的实现是不可能的，但若把晶体制成粉末，是在一定体积内 有无数个晶粒和相应的晶面，这样使在空间任意方位上都可以找到（hkl）晶面。当X光照射到样品时总有足够多的(hkl)晶面满足衍射条件在2 θ方向上产生衍射。 P 结晶尺寸大与Debye环 非常小的 0.1μm以下 有选择取向 小的 ～10μm 粗大的 ～50μm 单结晶 二、德拜照相法 如何记录衍射花样呢？一种方法是用平板底