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  • 2018-03-02 发布于浙江
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[化学]x射线

x射线的发展历史 1901???????伦琴 (Roentgen) 发现X射线(1895) 1914???????劳厄(Laue) 晶体的X射线衍射 1915???????布拉格父子 (Bragg) 分析晶体结构 1917 巴克拉 (Barkla) 发现元素的标识X射线 1924????????塞格巴恩 (Siegbahn ) X射线光谱学 1927????????康普顿(Compton等六人) 康普顿效应 1936????????德拜 (Debye) 化学 1946????????马勒 (Muller) 医学 1964????????霍奇金 (Hodgkin) 化学 1979????????柯马克和豪森菲尔德(Cormack/Hounsfield) 医学 1981 塞格巴恩(Siegbahn) 物理 产生x射线的四个途径 用高能电子束轰击金属靶 将物质用初级x射线照射以产生二级x射线—x射线荧光 利用放射线同位素源衰变过程产生的x射线发射 从同步加速器辐射源获取 x射线的产生(x射线管) 连续谱 横跨波长范围很大的弧形宽峰 形成:是因为热阴极发出的电子数量非常 多,经强电场加速后,到达阳极靶面时的 能量有所差异与靶材作用时的散射情况也 不完全相同,是产生x射线波长既有差异, 又连续变化的缘故。 连续x射线谱与x光管电压的关系(钨靶) 特征x射线 当管电压增加到激发电压时候,除了连续普的波段扩展和强度提高外,还会激发特征x射线。 继续增加管电压,连续谱要继续扩展其波段范围和提高其强度,但x射线只会提高其强度,不会改变其波长,因为他的波长仅仅与阳极靶材有关。 钼的特征谱线 x射线吸收法(XRA) x射线吸收法应用不广,多数情况下应用于机体效应极小的试样。 因为x射线吸收峰很宽,直接吸收方法一般仅用于由轻元素组成基体的试样里的单个高原子序数元素的测定,例如,汽油中的Pb含量的测定和碳氢化合物中卤元素含量的测定。 X射线衍射法(XRD) X射线照射晶体,电子受迫振动产生相干散射;同一原子内各电子散射波相互干涉形成原子散波.由于晶体内各原子呈周期排列,因而各原子散射波问也存在固定的位相关系而产生干涉作用,在某些方向上发生相长干涉,即形成了衍射波.由此可知,衍射的本质是晶体中各原子相干散射波叠加(合成)的结果. 衍射波的两个基本特征——衍射线(束)在空间分布的方位(衍射方向)和强度,与晶体内原子分布规律(晶体结构)密切相关 X射线衍射的Bragg条件 Bragg方程(确定衍射方向) 2dsinθ= nλ d—任意一组晶面的面间距。 θ—入射x射线的掠射角。 2dsinθ—相邻两条弹性散射线(或称反射 线) 的光程差。 λ—x射线波长。 n—x射线与一组晶面作用后所发生的衍射级数。n=1,2,3… X射线衍射的强度 产生衍射线或衍射强度的条件: 1.满足Bragg条件。相互干涉而发生衍射现象。 2.衍射强度不为0。 强度决定因素:晶胞内原子的位置和晶胞的类型。 X射线衍射强度是被照射区所有物质原子核外电子散射波在衍射方向的干涉加强.是一种集合效应。 X射线衍射强度反应的是晶体原子位置与种类。 物相分析 物相分析的主要任务 1、鉴定待测物由哪些物相组成(定性分析) 2、各组成的含量是多少(定量分析) 物相分析的主要依据参数 1、各个衍射面族的面间距d 2、衍射线的相对强度I/I0 物相分析的基本原理 1、每一种晶体物质都有各自的晶体结构,当x射线穿过晶体时,每一种晶体物质都有自己独特的衍射花纹。 2、衍射花纹的特征可以用各个衍射面族的面间距d(与晶胞的形状和大小有关 )和衍射线的相对强度I/I0 (与粒子的种类及其在晶胞中的位置有关)来表示。 3、这两个衍射数据是晶体结构的必然反映,而且它们在不同的实验条件下得到一系列不变的数据,因此可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。 物相分析步骤 1、确定d值和强度I/I0值(估计) 2、查索引 3、得到编号 4、查卡片 5、确定物质或物相 X射线荧光法(XRF) 利用能量足够高的X射线(或电子)照射试样,激发出来的光叫X射线荧光.利用分光计分析X射线荧光光谱,鉴定样品的化学成分称为X射线荧光分析. x射线荧光分析原理 当样品中元素的原子受到高能X射线照射时,即发射出具有一定特征的X射线谱,特征谱线的波长只与元素的原

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