3.3晶体对X射线衍射的基本方法PPT.pptVIP

3.3单晶体、多晶体的研究方法;单晶: 基本由同一空间点阵所贯穿形成的晶块. 多晶: 由许多很小的单晶体按不同取向聚集而成的晶块. 微晶: 只有几百个或几千个晶胞并置而成的微小晶粒(粉末). ;3.3.1劳埃法;2．实验装置 ;Tube;氯化钠晶体的劳埃相片 ;4．分类 ;晶体;3.3.2转晶法;2．实验装置 ;;3．原理; ;图中R为相机的半径, Hl 为 l 层线与中央层线的距离, 由图可得; 分别求得晶胞参数a,b,c后, 便可计算晶胞的体积, 普遍的计算公式为;3.3.3粉末法;2．原理 ;假设某一小晶粒晶面（h k l）面网与入射X射线的交角θ为，且此θ值恰好能满足布拉格公式，则反射线分布在一个以入射线为轴，以衍射角2θ为半顶角的圆锥面上。不同的晶面族衍射角不同，衍射线所在的圆锥半顶角不同，从而不同晶面族的衍射就会共同构成一系列以入射线为轴的同顶点圆锥。;3．分类;4.粉末照相法;（1）德拜－谢乐法;Film Chamber after Straumannis;结构:圆筒形包壳、试样架、光阑等部分组成。照相底片紧贴在圆筒外壳的内壁，相机的半径等于底片的曲率半径。德拜相机的直径一般为57.3mm或114.6mm。;样品要求：a. 细度：10-3cm～10-5cm（过250目～300目筛）b. 制成直径为0.3mm～0.6mm，长度为1cm的细圆柱状粉末集合体 ;Film Negative and Straumannis Chamber;1-对称式（正装法） 2θ从底片中心向两侧逐渐增加，常用于物相分析 2-倒置式（反装法） 2θ从底片中心向两侧逐渐减小，常用点阵常数的测定 3-不对称式 可校正由于底片收缩、试样偏心以及相机半径不准确所产生的误差，适用于点阵常数的精确测定;;衍射花样的测量和计算;实验中多选用正向区数据； 若相机直径 2R=57.3mm 则 ?度=L 若相机直径 2R=114.5mm 则 ?度=L/2; 给出每条衍射线对应的衍射指标hkl, 即对每条衍射线给出相应的hkl, 称为指标化. 实际是求? ? hkl的对应关系, 是一件比较困难的工作. 但对高对称性的晶系, 已有简单的方法. ;(3－1)式可改写为; 当(h2+k2+l2)之比为 ; 当(h2+k2+l2)之比为 ;;因此, 首先求得各对弧线间的距离, 进而求得下列有关量:; -----NaCl 粉末图的数据处理 ;阳极Cu靶 波长?=0.1542nm 粉末像机2R=57.3mm 高压35KV 管流20mA 曝光2小时 ;对实验得到的照片按下列步骤进行处理:; 确定晶胞参数 由(3－1)式, 可计算得各对弧线对应的a值, 例如, 第九对弧线对应的 a 值为; 确定晶胞的“分子”数 已知NaCl晶体的密度?=2.165g?cm-3, 化学式量 M=58.5 g?mol-1, 则晶胞中NaCl的“分子”数为:;这种假设是否正确, 则要看由此出发计算得到的衍射强度与实验粉末线的强度是否一致. 把这些分数坐标代入结构因子公式得; 这一计算如果与表中的实验结果完全一致, 说明所假定的试探结果是正确的。于是NaCl的晶体结构确定了。如果计算结果与实验相对强度不一致, 则应重新假定各原子的分数坐标进行重新计算, 直至与实验结果一致为止。;德拜粉晶照相技术曝光时间一般长达几小时，而且制样，装底片，冲洗底片等都很麻烦，工作效率很低。;（2）平板底片法;聚焦法虽然缩小了曝光时间，但所得的线条有限。;（3）聚焦法;;聚焦原理;;弯晶单色器;使用大发散角的点发散X射线束，样品受照射的表面可以很大，大大增加参与衍射的晶粒数目。 得到强度高得多的衍射线，有利于测量。 聚焦型的衍射仪器有极好的角度分辨能力。 聚焦型的设计正好便于应用弯晶单色器，获得严格单色的粉末衍射图。聚焦型的仪器由于衍射几何较为复杂，衍射角的校正也较复杂；需要样品的量也较之平行光束型的仪器多 。 ;a. 透射 b.非对称反射 c.对称反射