第九章节广角X射线衍射幻灯片.pptVIP

* （六）X射线在化学中的其他应用 1、区别晶态与非晶态??? 对于X射线发生衍射是结晶状态的特点，必须具有周期性的点阵结构方能发生衍射。非结晶状态不具周期性，故不能发生衍射。在X射线照相板上（不论何种摄谱法），都得不到明显的衍射点或线条。因此，可以用X射线衍射的方法来区别物质之晶态与非晶态。 * 2、鉴定晶体品种??? 每种晶体具有它自己特征的平面点阵间距离，因而对一定波长的X射线衍射、并用一定大小的照相片来摄谱时，每种晶体就具有它自己特征的衍射线（粉未线）， 粉未线的相对强度也是晶体品种的特征。 根据这个道理，即可分析鉴定晶体品种。一种方法是将纯物质的粉未线去和已知的很多粉未线图相比较，以决定此未知品种与何种物质的粉未线相符合。另一种方法是将各种已知物质的粉未线距离（l）按线的强弱列表成索引（与光谱分析中的灵敏线波长表相似），量得未知样品粉未线距离（1）后即可查表。 * 3、区别混合物与化合物??? 每种晶体有它自己特征的粉未线，例如A、B混合物的粉未图上即出现A与B各自的线条，说明有两固相存在。若A、B化合成 AmBn，则有新的粉未线出现，即有新相生成。例如Fe及S的混合物加热后的粉未线中即有Fe的粉未线,S的粉未线，也有不属于Fe及S的粉未线—FeS粉末线。根据此原理，可知两物相混合以后的混合物或者是化合物。 在混合物中，各组分的晶胞没有改变，各组分的dh*k*l*值未变，故衍射线不变，但在化合物中晶胞大小改变了，于是就生成新的粉未线。 * 4、物相分析 作物相分析时，定性方面可以决定样品中有几个固相，每个固相是什么； 定量方面可以根据粉未线的相对强度计算出各物相的百分数（这种定性的及定量的分析很象光谱分析）。 物相分析在化学上的应用很大。例如漂白粉的研究。 5、绘制相图 研究相平衡的相图时，可先根据物相分析的原理，决定一定温度下样品中的组分数及相数。其次，更重要的工作是决定相与相之间的界限（即相平衡曲线）或复相平衡的交点（如三相点）等，在热分析中，这种界限或交点是用冷却曲线的平台来决定的；在X射线衍射中，一般是以粉未法的结构分析来决定相的界限。 6、其他 测定晶粒的大小，研究固体物理，研究点阵变形等。 * 二、多晶衍射法 （一）多晶X射线衍射仪结构 多晶X射线衍射仪由三部分组成：a. 高压发生器, b. 测角仪,c. 外围设备(记录仪,仪器处理系统,测角仪控制系统等)。图9-23是水平式测角仪的俯视图。 图9-23 测角仪结构示意图 * （二）制样 多晶衍射仪试样是平板式的，长宽25～35mm，厚度由样品的X射线吸收系数和衍射角2θ的扫描范围决定，高聚物一般为0.5～1mm，要求厚度均匀，且入射线照射面一定要尽可能的平整。样品内微晶取向尽可能的小。 板材、片材用刀剪制样。薄膜常需将若干层叠粘成片。纤维需剪成粉末状，然后填入一定大小的框子里，用玻片压制成表面平整的“毡片”，连同框架插到样品台上。颗粒粉末样品要研磨到手触无颗粒感，然后填入框槽中，用玻片轻压抹平。高聚物树脂可用压机冷压制样。 * （三）典型聚集态衍射图谱的特征 图9-24 四种典型聚集态衍射谱图的特征示意图 * （四）多晶衍射仪的作用 利用多晶衍射仪可以得到材料或物质的衍射谱图。根据衍射图中的峰位、峰形及峰的相对强度，可以进行物相分析、非晶态结构分析等工作。在高聚物中主要用于考察物相、结晶度、晶粒择优取向和晶粒尺寸。 （五）影响因素 多晶衍射仪实验的影响因素来自三个方面： （1）表观（尺寸，平整性）和样品内部（取向，晶粒大小等） （2）实验参数: 各狭缝大小信号处理系统各参数，入射线波长及其单色性，空气散射因素。 （3）环境: 电源稳定性。 * 第五节 多晶X射线衍射法在高聚物中的应用 （一）物相分析 物相分析不是一般的化学成分分析。 物相分析不仅能分析出化学组成，更重要的是它还能给出元素间化学结合状态和物质聚集态结构。化学组成相同，而化学结合状态或聚集态不同的物质属不同物相。 * 1．X射线衍射物相分析的基本思想 （1）对于一束波长确定的单色X射线，同一物相产生确定的衍射花样； （2）晶态试样的衍射花样在谱图上表现为一系列衍射峰。各峰的峰位2θ（衍射角）和相对强度（Ii/I0）是确定的。用布拉格公式2dsinθ=λ可求出各衍射峰的晶面族所具有的面间距di。这样，一系列衍射峰的di-（Ii/I0），便如同“指纹”成为识别物相的标记；