基于fpga的高精度eas检测系统的研究-电路与系统专业论文 word格式.docxVIP

摘要本文提出了一种高精度的电子标签测试系统，能准确的测量电子标签的中心频率和品质 因数，同时针对大多数检测设备无法测量有效容积的情况，提出了有效容积的检测方法。为 了对标签进行频谱分析，系统设计了一个具有频谱分析功能的上位机界面。本文首先阐述了 EAS 系统的工作原理，对电子标签的内部结构进行了深入分析。在研究 和对比了国内外的检测方法之后，采用了基于互感耦合理论的检测方法。系统主要包括模拟前端，数字基带信号处理，上位机界面三个部分。 模拟前端主要包括传感器天线、信号源 DDS、高频信号放大器。传感器天线是系统的关键，常见的传感器往往由于抗干扰性差而影响检测的精度。本文对天线的结构进行了改进，有效的减小了干扰。信号源 DDS 采用的高精度的 DDS 芯片，输出信号频率能精确到 0.0291Hz。 数字基带信号处理部分采用的是 FPGA（EP2C70F672C8）作为核心处理芯片。由于系统检测的是 1Mhz~15Mhz 的电子标签，为了准确地对信号采样，采用的是 125Msps 的 12 位高 精度 AD 芯片，实际中 FPGA 输出的是 100Mhz 的控制时钟，采样频率为 100Msps。上位机 和下位机通过串口进行数据传输，波特率为 921600bit/s，接近 1Mbit/s 的速率，能满足实际应 用中快速检测的需求。上位机采用的是 Labview 进行设计，能够有效的显示出所测标签的中心频率、品质因数、 有效容积的值以及标签的频谱，给标签生产企业提供直观的信息反馈，指导标签的生产。目前市面上的 EAS 电子标签测试仪仅能检测标签的中心频率 f 和品质因数 Q，中心频率 f 的误差为 0.1Mhz，品质因数 Q 的误差为 10%，无法检测有效容积 Veff 和进行频谱分析。本课题设计的电子标签检测系统中心频率 f 的误差小于 0.01Mhz，品质因数 Q 的误差小于 3%，能较准确的对有效容积 Veff 进行测量，能够对电子标签的频谱进行分析，测试系统在杭 州美斯特公司的实际应用中性能稳定，检测效果良好。关键词：EAS检测仪，FPGA，高精度，电子标签，有效容积ABSTRACTThis paper presents a high accuracy electronic tag test system, which can measure the center frequency f, the quality factor Q of the tag accurately. What’s more the system we designed can measure the effective volume Veff of the tag which can seldom do in other system. Besides the system include a PC interface, which can display the frequency spectrum of the tag, that can help researchers analyze the performance of the tag deeply.This paper first elaborate the principle of the EAS system, and we deeply analyze the structure of the electronic tag. After studying and comparing the measure method, we choose the method based on the theory of mutual inductance coupling.The syetem we designed mainly contains three parts: RF front end, digital signal processing part, PC interface.Analog front end is consist of antenna sensor , signal source DDS and high frequency signal amplifier. The antenna sensor is the key point of the system, common sensor often due to poor anti-interference and influences the accuracy of detection. This paper presents an improved version of the antenna, which