电致发光成像技术在硅太阳能电池隐性缺陷检测中的应用-Core.PDFVIP

下载本文档

1
0
约1.07万字
约 5页
2018-10-11 发布于天津
举报
版权申诉

电致发光成像技术在硅太阳能电池隐性缺陷检测中的应用-Core.PDF

1、本文档共5页，可阅读全部内容。
2、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。
3、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击这里二次下载。
4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

电致发光成像技术在硅太阳能电池隐性缺陷检测中的应用-Core

32 4 Vol32 No4 2011 4 CH INESE JOURNAL OF LUM INESCENCE Apr. , 2011 : 2011) 0403780 电致发光成像技术在硅太阳能电池隐性缺陷检测中的应用 1 1 1 1 2 1, 3* 李艳华 , 潘淼 , 庞爱锁 , 武智平, 郑兰花, 陈朝 ( 1. , 36100 ; 2. , 36100 ; 3. , 36100 ) : ( E lectrolum inescence, EL ) EL 8 0~ 1 200 nm EL , EL CCD EL, EL EL , EL : ; EL; ; CCD : TN3831 PACS: 78. 60. Fi; 84. 60. Jt PACC: 7860F; 8630J : A DOI: 10. 3788/ fgx 0378 ; DLIT InGaA s 1 引言 , DLIT , EL 1 s CCD , , DLIT , EL , , EL , , EL , , ( L ight beam induced current, LBIC) , ( Electron beam induced current, , EBIC) [ 12] ( Dark lockin thermogra phy, DLIT) [ 34] LBIC EBIC ( LED) DLIT , , , EL 8 0~ 1 200 nm, , DLIT EL : : : 2007 ( 2007HZ00 2) : ( 1984 - ), , , Em ail: liyanhua9201@ yahoo. com. cn * : ; Em ail: cchen@ xmu. edu. cn, Tel: ( 0 92) 21824 8 4 , : 379 EL , [ ] 0. 7 ~ 3. 0 V EL , , 3 结果与讨论 , ; , 3. 1 EL # ,