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浅析高压引线的布置对测量结果的影响 杨中彪 （杭州市电力局 310016） 摘 要 通过几个现场实例，分析了试验中因高压引线造成的测量误差对测量结果的影响，提出了高压引线作为试验装置的重要组成部分，其正确、合理的引线布置是试验成功的必要条件。 关键词 高压引线 布置 1 引言 现场试验的目的是通过一定的测试方法，获取能够表征设备绝缘状况的参数，从而揭示设备绝缘性能的变化趋势，以发现、消除设备隐患，确保设备的安全运行。为此，对每一个试验数据都应力求获取“真值”，而现场试验将受到诸多因素的影响，不易获取“真值”。高压引线作为试验装置的重要组成部分，其正确、合理的引线布置对试验工作的进程及测量结果尤其重要。 高压引线是试验装置与被试设备的“主通道”，为获取试验“真值”，不同的试验项目应选取不同的试验引线作为“主通道”。如变压器频响法测试仪采用的引线是对阻抗匹配及屏蔽有严格要求的双绞电缆;高电压介损试验则必须选择防电晕高压引线;直流泄漏电流试验应尽可能选择粗而短、无毛刺的屏蔽线。研究认为，现场高压引线的正确选择与合理布置对试验的完整性与可靠性有着极为重要的作用，必须引起试验人员的高度重视。以下通过现场实例，试侧重分析现场作业时高压引线对试验进程及结果如何造成影响，并采取措施消除影响。 2 高压引线对测量主变套管介损的影响 在对xx变电所2#主变预防性试验时，发现该主变500kV套管介损超标，电容量与铭牌值相比偏差较大。其当天天气为晴，温度为35 oC，湿度为65%，数据如表1所示。 表1 500kV套管的实测数据 相别 铭牌电容量（pF） 实测tgδ% 实测电容量（pF） 标准 A 504 0.98 531.6 tgδ%≯0.8，电容量与铭牌值相比误差≯5% B 504 0.76 523.9 C 506 1.08 524.7 该主变的中性点套管、低压套管及本体介损、电容量均合格，与历年测试数据相比无明显差别。根据所测数据综合分析，测试仪器应无问题，当天气象条件良好，被测设备附近无强干扰源，为查明原因，决定对A、B相主电容进行分段加压试验及C相末屏做介损试验，数据如表2所示。 从表2可以看出，套管末屏介损数据正常，而套管介损随施加电压的变化而变化，是套管有问题还是测试手段有问题？经现场分析，三相套管同时有问题的可能性不大，故决定从试验接线方面切入检查，由于所施电压为10kV，且用同一根高压引线测试的中性点套管、低压套管及本体介损、电容量均合格，故排除高压引线电晕损耗复合入测量机构引起介损偏大的可能性。 表2 A、B相主电容分段加压及C相末屏介损试验实测数据 相别 接线方式 施加电压（kV） 实测tgδ% 实测电容量（pF） A 抗干扰正接 2 0.80 537.4 6 0.86 531.2 10 0.98 531.6 B 抗干扰正接 2 0.65 529.7 6 0.70 523.0 10 0.76 523.9 C相末屏 反接 2.5 0.46 1617 观察高压引线走向，我们发现，由于电桥本身的高压引线长度不够，增加了一根屏蔽线作为高压引线延长线，其一端接在中性点上（中性点与500kV套管端部已用铜丝相连），为保证高压引线延长线与主变散热器的安全距离，延长线在三相500kV套管上均绕了一圈作为固定，这样延长线的另一端与电桥本身的高压引线相连接。分析认为，问题在于500kV套管上的那一圈延长线，遂决定解除延长线在套管上的绕圈，用升高车将电桥本身的高压引线直接接到500kV套管端部，其它接线方式不变进行测试，结果如表3所示。 表3 500kV套管介损测试重新布置高压引线后的实测数据 相别 铭牌电容量（PF） 实测tgδ% 实测电容量（PF） A 504 0.38 495 B 504 0.38 495 C 506 0.39 499 所测数据与铭牌值及历年数据无明显差别，试验合格。现作如下分析： 图1所示为电容型套管等值电路图。当瓷套表面干燥、清洁时，R1、R2值极大，且C5、C6接近于零，故可将图1(a)简化为图1(b)。当高压引线延长线，即屏蔽线在被试套管上缠绕一圈时，屏蔽线外皮R4、C4与穿芯杆对外瓷套管的电容C3串联，当施加电压时，产生了电流I3，这个电流将叠加在I2上，即I2=I1+I3，介质损耗由tgδ增加到了tgδ1（如图2所示），电容也由此有所增大。 (a) (b) 图1 电容型套管的等值电路图 (a) 等值电路图 (b) 简化的等值电路图 R1、R2—瓷套表面电阻；C1、C2—串联成电容型套管的导电杆与小套管之间的电容；C5、C6—表面杂散电容；C3—穿芯杆对外瓷套管的电容；R4、C4—高