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第一单元---TS16949基本认知推荐
* 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 總均值 X = 4.7625 上控制界限 下控制界限 均值 ? 極差圖 X-Bar R 均差值 R = 4.05 统计过程控制(SPC) * 管制图判读方法 单独一点逸出界限 管制上限 管上 A 三点中有二点在此处或更高处 制半 B 五点中有四点在此处或更处 图部 C 八点连串在此或更高处 管下 C 八点连串在此处或更低处 制半 B 五点中有四点在此处或更低处 图部 A 三点中有二点在此处或更低处 单独一点逸出界限 管制下限 中心线 * 管制图判读方法 检定1:任何一点超出管制 之外 检定2:连续三点中有二点在此处(A区) 检定3:连续三点中有四点在此处(B区)或更高/更低处(A区) 检定4:连续八点在中心线(CC)上方或下方 检定5:连续几点同一方向时: 连续5点继续上升(或下降)……注意其以后动态 连续6点继续上升(或下降)……开始调查原因 连续7点继续上升(或下和)…….必有不寻常原因,应采取措施连续上升或下降的情形如(图1-16)所示. 连续5点上升 连续6点上升 连续7点下降 (图1-18) * SPC统计过程控制(制程能力分析) ?当过程在受控状态下(管制界限内)进行即可评估制程能力,以此事前推定未来过程可能出现不良品之或然率。 ?制程能力分析种类 (1)Ca:过程准确度:实际平均值(X)与规格公差(U)之间偏差的程度。 Ca = (2)Cp:过程精密度:规格容许差与实际群体的[估计标准差]偏差的程度。 Cp = (3)Cpk:过程能力指数:用以衡量制程能力,作为改进制程的参考。 Cpk =Cp(1-1Cal) = ?制程能力指数要求 (1)QS-9000:1995 PpK≥1.67 , Cpk ≥1.33 (2)QS-9000:1998/TS-16949:2002 维持或超越顾客零件批准程序要求所规定的过程能力或绩效。 (X-U) T/2 ×100% T 6Q Zmin 3 * 制程能力分析之计算 n 2 3 4 5 制程能力分析之计算方法 d2 1.13 1.69 2.06 2.33 ?R= X= ?O=R/d2= / = ?USL= ?LSL= ?ZUSL= = = ?ZLSL= = = ?Cpk= = = ?Cp= = = = 批准: 审表: 制表: USL-X O ∧ ∧ X-LSL O ∧ Zmin 3 T
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