FAI及CPK基础知识 华冠品保部.pptVIP

? 2010 CymMetrik yyyy.mm.dd v#r# ? 2010 CymMetrik Template 2009.12.24 v1r0 FAI、CPK基礎知識 華冠品保部 規格對品質的意義 大 綱 1.FAI簡介及製做 2.CPK概念介紹 3.CPK製做 基本概念 FAI及CPK意義 FAI製做流程 看明白圖紙,將所有的尺寸逐ㄧ編號 找出該客戶的表樣. 輸入圖紙尺寸及公差 草測所有尺寸. 檢查是否有錯. 正式輸入電腦檔. 檢查電腦檔公式顯示情況. 再檢查圖面公差尺寸. 正式輸入電腦檔. FAI 格式 什么是 Cpk? Cpk的定义：制程能力指數； Cpk的意义：制程水准的量化反映; 用一个数值来表达制程的水准; (1) 只有制程能力强的制程才可能生产出质量好、可靠性水平高的产品﹔ (2)制程能力指数是一种表示制程水平高低的方便方法，其实质作用是反映制程合格率的高低。 和Cpk相关的几个重要概念1 和Cpk相关的几个重要概念2 USL (Upper specification limit):即規格上限 LSL (Low specification limit): 即規格下限 C：规格中心 X=(X1+X2+… …+Xn)/n 平均值 (n為樣本數) T=USL-LSL 規格公差 Cp等级评定及处理原则 Cpk=Cp (1- Ca ); Cpk≦ Cp; Cpk是Cp和Ca的綜合表現﹔ Cpk 計算公式 製程能力靶心圖 Cpk等級評定及處理原則 Cpk和制程良率換算 總 結 Cpk的計算實例1 某工序的規格要求為10±0.1mm,實際測出50個樣本值如下﹐計算出該工序的Cpk; Cpk的計算實例2 X=10.036; s=0.027; Ca=(x-C)/(T/2)=(10.036-10)/0.1=0.36; Cp=(10+0.1-(10-0.1))/(6*0.027)=1.239; Cpk=Cpx(1-Ca)=1.239x(1-0.36)=0.793; * * ? 2010 CymMetrik yyyy.mm.dd v#r# FAI:全尺寸測量報告 CPK:制程能力指數 单边规格：只有规格上限和规格中心或只有下限或规格中心的规格;如考试成绩不得低于80分，或浮高不得超过0.5mm等；此時數據越接近上限或下限越好﹔ 双边规格：有上下限與中心值,而上下限與中心值對稱的规格；此时数据越接近中心值越好；如標籤长规格60±0.2mm; n -1 (X1-X)2+(X2-X)2+… …+(Xn-X)2 δ= Ca:制程准确度; (Capability of Accuracy) Ca 在衡量“實際平均值“與“規格中心值”之一致性; 对于单边规格，不存在规格中心，因此也就不存在Ca; 对于双边规格， 2 / T C X Ca = 什么是Ca? Ca等级评定及处理原则 Cp:制程精密度 (Capability of Precision) Cp衡量的是“規格公差寬度”與“製程變異寬度”之比例; 对于只有规格上限和规格中心的规格： 对于只有规格下限和规格中心的规格： 对于双边规格： 6 s USL-LSL Cp= 3 s USL-X Cpu = 3s X Cpl= LSL 什么是Cp Cpk 計算公式 CpK值之計算式有兩種 B. 單邊規格時: A. 雙邊規格時: . . . . . . . . . . . . . Ca好﹐Cp差 Cp好﹐Ca差 Cpk好﹔ . . . . . . . . . . . 我們常用產品品質特性的常態分配與規格相比較,以決定產品的不良率.如右圖所示產品品質特性的常態分配. 規格上限:USL (Upper Specification Limit) 規格下限:LSL (Lower Specification Limit) 落在規格上,下限外的斜線面積即為產品的不良率. μ LSL USL μ -3 σ -2 σ -1 σ +3 σ +2 σ +1 σ 68.27% 95.45% 99.73% 0.135% 0.135% Standard Deviation from mean Cpk和制程良率換算 Cpk和制程良率換算 *