EMC诊断技术V1——O.pptVIP

EMC诊断技术 （加拿大）容向系统科技有限公司 容 向 —— 专注于电磁兼容方向 电磁干扰【EMI】排查技术 近场测量技术 近场探头 EMSCAN电磁干扰扫描系统 远场测试对调试的作用 频谱图：只有频率信息， 没有位置信息 远场调试 近场测量技术 远场测试，是指标性测试 近场测量，是调试性、诊断性测量 近场测量，测量的是EUT上的电流 EMI是EUT上的高频电流回路形成的。 对一般的环境噪声不敏感，可以在普通环境下测试 近场测量的目的在于： 认识EMI的形成机理 定位EMI产生的源头和分布区域。 近场调试 近场测量：磁场/电场 现代电子产品，近场以磁场为主： 低压大电流：近场区域以磁场（H－场）为主 近场区域，磁场稳定，电场不稳定 近场测量，磁场的耦合系数远比电场小，容易被测量到 几个常见问题 暗室测试超标的频率点，使用近场是否能测量到？ 远场频率点一定能在近场测量到 近场测量到的频率点未必在远场存在 近场探头是否需要计量？ 不存在“天线因子”，不需要计量 但是最好有频率响应图（供应商提供） 近场测量 近场测量，是相对性测量 单次测量的值，没有“定量”意义 检查不同位置电磁场的相对大小? 定位干扰源 检查“整改前后电磁场的变化”? 评估设计修改 需要知道的是：两次测量的差值 两次测量，测试配置、方向、位置要保持完全一致 近场减少量和远场测量，是否有对应关系？ 非常复杂的关系（差模/共模, …） 近场测量手段 近场探头 能进行频谱测量 能测量某个空间点各频率分量的强度 机械式扫描系统 能进行频谱扫描 能进行空间扫描 电子式扫描系统【EMSCAN】 能进行频谱扫描 能进行空间扫描【针对一个频率点】 能进行频谱和空间扫描【全频段的空间扫描】 电磁干扰【EMI】排查技术 近场测量技术 近场探头 EMSCAN电磁干扰扫描系统 近场探头构造 近场探头的响应 LANGER近场探头组 近场测量 Langer近场探头LF1/RF2 Langer近场探头RF4-E 近场探头用途及局限 近场探头的用途 查找EMI热点 查找机箱EMI泄漏 查找电缆EMI泄漏 使用局限 可重复性测试差 无法看清EMI形成机理 难于评估电路设计修改的有效性 传统EMI对策 查找EMI问题的方法：频谱仪＋近场探头 “探测火苗” 采取的手段：屏蔽＋滤波 把“火苗”捂在设备内部 容 向 —— 专注于电磁兼容方向 * 传感器/天线 EUT EMI对策的效果不能得到立即的反馈， 容易走弯路！ EUT EMI对策的效果能立即得到反馈！ 近场测量，不需要测电场： 近场探头的方向性：只能测量到穿过环的电磁场。 分辨率：约为 环直径×3 分辨率越高（环的面积越小） ，灵敏度越低。 近场探头对PCB布线产生的电磁场的响应： 直径2mm的探头，水平方向在6mm内几乎没有变化 高度方向特别灵敏 分辨率：25mm 5mm 2mm Langer的19个近场探头 1mm 频率范围： LF1：100kHz－50MHz RF2：30MHz－3GHz