原子发射光谱法2.pptVIP

工作原理 摄谱仪光路图 4，全谱直读光谱仪 第三章 原子发射光谱法 第一节 概述 第二节 基本原理 第三节 原子发射光谱分析仪器 第四节 干扰及消除方法 第五节 光谱分析方法 第六节 分析性能 第四节 干扰及消除方法 1，光谱干扰 2，非光谱干扰 1，光谱干扰 主要指由于带光谱及光学系统的杂散光引起的干扰 。 如CN分子的三条带光谱353-359nm；377-388nm；405-422nm 消除方法：背景校准 2，非光谱干扰 主要来自试样组成对试样的蒸发和激发过程的影响，也称基体效应。 消除办法：光谱添加剂 闪耀光栅的原理 采用定向闪耀的办法，将光栅刻制成沟槽面与光栅平面成一定角度的锯齿结构，使衍射的辐射强度集中在可发生色散的光谱级上。 图2-4，2-5 中阶梯光栅 与普通的平面闪耀光栅不同的是，它具有高精度的宽平刻槽，刻槽为直接阶梯状，宽度比高度大几倍，光栅刻线较少，闪耀角较大，适用光谱级次较大。可得到很高的线色散率和分辨率。 光学特性 (1)色散率 色散率用角色散率和线色散率来表示 角色散率可由光栅公式微分求得 d?/d ? ＝m／(dcos?) 式中 d为刻痕间距； ?为入射角；m为光谱级次。 角色散率与光谱级次成正比，与光栅常数及cos?成反比。—般而言，衍射角不大、因此cos?的变化也不大，所以角色散率可近似地看作一个常数。 线色散率与角色散率及投影物镜焦距有关 dl／d ?＝mf／(dcos?)＝mnr f/cos? 式中nr 为单位距离光栅刻线数(条／mm)；f为物镜焦距。 可见，线色散率与光谱级次、单位距离光栅刻线数及物镜焦距成正比。增加单位距离内的刻线数以及物镜焦距，利用较高的光谱级次，均可提高线色散率，但高级次的光谱强度较弱，故常用一级或二级而不用更高的级次。 2)分辨率 光栅光谱仪的理论分辨率R为 R＝R=? / ? ? =mN 式中 m为光谱级次，N为光栅总刻线数。若要获得高分辨率，可采用大块的光栅，以增加总到线数 3）集光本领 光栅光谱仪使用定向闪耀光栅，使80%的辐射能集中到所需要的波长范围内，因而具有较强的集光能力。 与棱镜光谱仪相比，光栅光谱仪的色散率不随波长的变化而变化，谱线排列均匀．其色散率、分辨率均较高，适用波长范围宽，因此日前多采用光栅光谱仪。 除了一般的平面闪耀光栅外，光谱仪中巳相当多地采用中阶梯光栅。它与普通的平面闪耀光栅不同之处是。它具有高精度的宽平刻槽．刻槽为直角阶梯形状，宽度比高度大几倍，光栅刻线较少，闪耀角较大(60一70度），适用的光谱级次较高(40一120级)；且具有比普通闪耀光栅高得多的线色散率和分辨率。 第三节 发射光谱分析仪器 一、激发光源 二、光谱仪 三、光谱记录及检测系统 光谱记录及检测系统的作用是接受、记录并测定光谱。常用的记录及检测方法有摄谱法和光电直读法。 （一）摄谱法 （二）光电直读法 1，光电倍增管 2，固体成像器件 电荷耦合器件(Charge Coupled Device）与电荷注入器件（Charge Injection Device） （一）摄谱法 摄谱法将从光学系统输入的不同波长的辐射能在感光板上转换为黑的影像、再通过映谱仪和测微光度计来进行定性、定量分析。是早期常用的记录和显示光谱的方法。 摄谱时，底片中的卤化银在不同波长光的作用下形成潜影中心。在显影剂的作用下，包合有潜影中心的卤化银晶体迅速还原成金属银，形成明晰的像，再利用定影剂除去未还原的卤化银，即可得到具有一定波长和黑度的光谱线。利用映谱仪将底片放大20倍，可进行走性分析，用测微光度汁测定谱线黑度，可进行定量分析。 所谓黑度，是指感光板上谱线变黑的程度，将一束光照在谱板上，谱线处光透过率的倒数的对数即为黑度。 S＝lg（1／T)＝lg（Io/I) S为黑度，T为谱线处光透过率，Io为透过未受光作用部分的光强度，I为透过谱线处的光强度。 由感光板上谱线的黑度并不能直接得到待测元素的发光强度、需要通过乳剂特性曲线来反映黑度S与曝光景H之间的关系，进而得到黑度S与光强I的关系。 乳剂特性曲线可分为三部分，AB为曝光不足部分，CD为曝光过度部分，BC为正常曝光部分，定量分析中常利用曲线的BC段。 BC段为直线，黑度S与曝光量的对数值lgH之间的关系为 S＝r(lgH一lgHi) r为BC段直线的料率，称为感光板的反衬度。表示曝光量改变时黑度变化的快慢。 BC段部分延氏长线在横坐标上的截距为lgHi，Hi为感光板乳剂的惰延量，可用来表示感光版的灵敏度。Hi越大，灵敏度越低。 AB段与纵轴交点处的黑度So称为雾翳黑度． BC段在横轴上的投影bc称为