第一部分 X射线衍射课件(2010-03).ppt

七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （1）基本概念 内应力：产生应力的各种外部因素去除后，由于形变、体积 变化不均匀而存留在物体内部并保持平衡的应力。分为： ①宏观应力（δⅠ）：在物体中较大范围内存在并保持平衡 的应力。宏观应力引起衍射线向单一方向位移。 宏观应力的产生 a)焊接前；b)焊接后 七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （1）基本概念 ②微观应力（δⅡ） ：在物体中一个或若干个晶粒范围内存在 并保持 平衡的应力。微观应力引起衍射线向不同方向位移， 同时使衍射线漫射宽化。 ③超微观应力（δⅢ） ：在物体中若干个原子范围内存在并保 持平衡的应力，一般在位错、晶界及相界等附近。超微观应力衍 射线强度降低。 七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （2）测定基本原理 宏观应力在物体中较大范围内均匀分布产生的均匀应变表现 为该范围内方位相同的各晶粒中同名（HKL）面晶面间距变化相 同，并从而导致了衍射线向某方向位移（2θ角的变化）。 宏观应力与不同方位同族晶面面间距的关系 宏观应力测定公式： δφ=KM 式中：K为应力常数； M=△2θφψ/△sin2ψ （即M为2θφψ - sin2ψ直线的斜率 ）。 2θφψ - sin2ψ之间的关系 七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （3）测定方法 固定ψ法：通过衍射几何条 件的设置直接确定和改变衍 射面ψ方位的方法。适用于 尺寸较小的试样。 固定ψ法 a) ψ =0°;b) ψ =45° 七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （3）测定方法 固定ψ0法（0°-45°法）： ψ或ψ0选取0°和45°两个 点进行测定，由两个数据点 求得2θφψ — sin2ψ直线 的斜率M。 固定ψ0法 a) ψ =0°;b) ψ =45° 七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （3）测定方法 固定ψ0法（sin2ψ法）： 选取几个ψ方位进行测量 （一般＞4个），然后用最 小二乘方的原则求出2θφψ - sin2ψ直线的最佳斜率M。 固定ψ法—sin2ψ法 七、X射线衍射分析的应用 （六）宏观应力测定 （4）测定应注意的问题 峰位的准确测定 应力常数K的确定 衍射面的选定 试样的状态 七、X射线衍射分析的应用 1．物相定性分析 （3）基本过程步骤 ①获得衍射花样，测定和计算每根条衍射线的面间距和相对强度值I/I1(I1为最强线的强度) 。 ②从前反射区选取强度最大的三条衍射线，并使其d值按强度递减的次序排列，又将其余线条的值按强度递减顺序列于三强线之后。 ③从Hanawalt索引中找到对应的d1（最强线的面间距组。 ④按次强线的面间距d2找到接近的几行。在同一组中，各行系按d2递减顺序安排。 七、X射线衍射分析的应用 1．物相定性分析 （3）基本过程步骤 ⑤检索这几行数据是否与实验值很接近。若是则再依次查对第三、第四、第五至第八条线，并从中找出最可能的物相及其卡片号。 ⑥对卡片（d值与I值），若吻合即可确定待测样品的物相。 ⑦找不到对应的卡片，说明衍射花样的三条最强线可能并不属 于同一物相，此时需从待测花样中选取下一根线作为次强线，重复4-6的检索程序。 （衍射花样获得→d值与I值测量→查阅索引→核对卡片） 思考题3：待测样品找不到对应的卡片的原因有哪些？如何解决？ 七、X射线衍射分析的应用 1．物相定性分析 （4）注意事项 ①物相的面间距d值比相对强度的数据重要； ②低角度区域的衍射数据比高角度区域的数据重要； ③了解试样的来源、化学成分和物理特性对物相定性分析有重要的帮助； ④在进行多相混合物试样分析时，不能要求一次就将所有主要衍射线都能核对上； ⑤要确定试样中含量较少的物相时，可用物理或化学方法富集； ⑥计算机物相自动检索。 七、X射线衍射分析的应用 1．物相定性分析 （5）分析实例 表2-1 物相分析实验结果记录表 分析结果:2M1型白云母 未知物的衍射数据 白云母的衍射数据（PDF卡片6-0263） d/nm I/I1 d/nm I/I1 d/nm I/I1 d/nm I/I1 0.9951 82 0.3320 100 0.9950 95 0.3320 100 0.4984 33 0.3198 32 0.4970 30 0.3190 30 0.4467 24 0.2986 35 0.4470 20 0.2987 35 0.3881 18 0.2859 23 0.3880 14 0.2859 25 0.3736 18 0.2791 20 0.3730 18 0.2789 20