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第二章 高分子的聚集态结构 如图: 研究高分子聚集态的目的: 分子间作用力大小的度量:内聚能密度(CED,Cohesive Energy Density)。 表: 左图几种典型的高聚物的态转变过程: 第二节??? 高分子结晶 因: 3. 高分子结晶的形态 高分子结晶形态取决于 2.2.2 高分子结晶结构的测量:X-Ray 衍射方法 * X-Ray衍射原理:Bragg定律。 1. 粉末照相法 2.单晶旋转法 * 晶胞参数的确定:试误法 2.2.3 溶液结晶 2. 折叠链结构 研究结果 2.2.4 溶液单晶的生长过程 ** 设: 高分子结晶的平衡熔点 : 从总自由能变化表达式出发: 2.2.5 熔体结晶 2. 球晶的生长: 球晶的半径大小随时间线性增加。 3. 球晶尺寸的测量 Hv散射图:四叶状。 2.2.6 结晶度和晶粒尺寸 结晶度的测定: 2. 广角X-ray衍射(WAXS) 3. 红外吸收光谱 5. 其它方法 差别产生的原因: 2.2.7 结晶和熔化 2)熔体的本体结晶速率 结晶动力学 在时间t时, 这说明:起始结晶重量分数: Avrami 指数与成核方式 实际上跟踪体积变化更为方便。 3)结晶速率的温度依赖性 即: * 这些特点为高分子结晶的特殊形态:薄的片晶的反映 结晶熔点时: 影响 的其它结构因素: 熔点 的测量: 链末端效应 第三节??? 非晶态高聚物 2.3.1 非晶高分子的基本结构图象 在争论中逐步明晰 * 高聚物非晶态中存在局部有序。 第四节 ?高分子的取向 取向高分子材料的两个重要应用方向: 2.4.1 取向的事实 * 非晶态高分子的拉伸取向,有两种可能: 2.4.2????? 取向程度的描述 2.取向角 4.??? 取向函数的应用 2.4.3 取向度的测定 最简单的方法测量双折射度 3. 热传导 第五节 高分子的液晶态 4. 液晶态结构 5. 高分子液晶(主链液晶,側链液晶) 7. 应用 第五节 高聚物的共混(高分子合金) 3. 相容性 5. 织态结构 完 是用带补偿器的偏光显微镜: 为平行和垂直于拉伸方向的光程差;d为试样的厚度。 取向函数: n1,n2分别为理想时平行和垂直于纤维轴方向的折光指数, 为高聚物的晶态密度, 为试样的密度。 取向方向:导热快 垂直取向方向:导热慢 4. 红外二向色性 电矢量∥基团振动偶极距改变方向 最大吸收 电矢量⊥基团振动偶极距改变方向 吸收为0 5. 声波各向异性 1.液晶态:液态的流动性,部分保持晶态物质的分子有序排列,物理性质上呈现各向异性。 2.液晶态分子的结构特征 1)刚性的分子结构,轴比R1(液晶原) 2)具有液态下维持分子某种有序排列的作用力,如:对位苯撑,强极性基团,氢键等。 3)有一定的柔性部分 3. 热致型液晶,溶致型液晶 1)??近晶型:平行排列,层状结构,长轴垂直于层片平面;2)向列型:一维有序;3)胆甾型:层状结构,长轴在层片平面上。 6. 液晶的一些特殊性质 熔体结晶:不完全,半结晶高分子 溶液单晶:有缺陷,片晶表面的无序性 球晶:内部有非晶部分存在。 结晶度 :结晶高分子中结晶部分的重量分数(百分数)。 重要性: 与物理性质有密切关系。 1.比重法(密度法) 假定:半结晶高分子的比容具有加和性。 a:非晶;c:结晶 在给定温度下, , 为完全非晶态,完全结晶态时的比容。 , 为完全非晶态,完全结晶态时的密度。 X-ray衍射图: 非晶区和晶区的衍射图象不同。 , 分别为非晶态驼峰面积,和结晶峰面积。 , 分别为非晶谱带的吸光率,和结晶谱带的吸光率。 4.热分析 示差扫描导热法(Differential Scanning Calorimetry)(DSC) 为100%结晶的熔化热/g, 为试样的熔化热/g。 核磁共振法,小角X 射线衍射等。 结晶度的测定,有多种方法,但不一定得到相同的结果。 实际的高分子固体材料的结构,并不完全是由完全结晶和完全非晶两部分所组成。 影响结晶速度和结晶度的主要因素: 链结构规整度 支化度 分子量 添加剂和成核剂 1)结晶速率的测量 1.光学方法 显微镜,光散射技术:测量微晶尺寸和数目随时间的变化。 2.膨胀计法 测量等温结晶过程中比容大小随时间的变化。
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