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Phased Array UT Fundamental 相控阵超声波基本原理 相控阵技术发展史 相控阵理论根源可以追溯到最早的波场（机械波、电磁波）理论，众所周知的应用是相控阵雷达，由于采用相控阵技术，在对探测目的特征成象方面的优势，如分辨力、电子控制空间场扫描、设备紧凑可靠等等，是不言而喻的； 超声波应用于无损检测始于二十世纪三十年代，在四十年代推出了脉冲回波（A扫描）探伤仪器，目前仍然被广泛使用。由于脉冲回波探伤仪的检测结果不直观，定量性差，检测过程无法记录，因此与近几十年来的数据采集与数据处理技术相结合，逐步提出了B扫描、C扫描等改进方案，但就根本技术而言，没有取得任何质的突破。但目前仍然存在将这种改进认为是超声波技术的高新技术的认识倾向。 几乎与相控阵雷达相同的年代，科学家同样认识到将同样的技术原理应用到超声波无损检测中的可行性，因此在60年代探索研究就已经开始； 在1979年，Macovski的一篇著作发表在IEEE，完整地阐述了使用传感器阵列实现超声波成象的理论； 在二十世纪八十年代初，超声波相控阵技术成功应用于医疗临床诊断。由于检测目的明确，材料声速较低（相当于水），技术的突破容易实现。这就是熟知的B超，乃至后来的彩超，就系统的主要性能参数而言，如频率范围，典型的为1MHz到20MHz，就工业应用要求已经不远。 相控阵技术发展史 1992年，由Timet公司向NDT公司定购了一套超声波相控阵仪器和一个12晶片的探头，探头为曲面设计，标称频率5MHz，有效孔径80mm，应用于实现深度聚焦控制； 1993年，NDT加入R/D Tech，并同时推出第一台商业系统； 由于无损检测技术领域多样松散的特点，R/D Tech把最初的市场定位在核工业，致力于在核工业应用领域推广所拥有的两项专长技术：超声波相控阵和涡流阵列，并在1997年左右达到预期目的，成为欧洲乃至世界核工业领域的最主要无损检测系统及技术供应商； 1997年，R/D Tech开发成功动态深度聚焦技术，以及超声波数据采集处理专用软件TomoView，其中TomoView运行在Windows兼容操作系统环境下，数据存储格式RDTIFF可以存储包括标准超声波、超声波相控阵和电磁超声的检测结果和数据分析结果，实现了真正的检测数据无损失保存，其开发目的就是期望成为未来的超声波检测领域的开放性工业标准。 目前，R/D Tech在超声波检测技术领域的产品线包括从8通道常规超声波系统uTOMOSCAN到FOCUS 32/128超声波相控阵系统，从应用于工业在线的QUICKSCAN UT32通道常规超声波系统到QUICKSCAN PA 32/256超声波相控阵系统。 在今年，R/D Tech将要推出重量仅有20公斤的超声/涡流/相控阵一体化系统。 相控阵技术发展史 波场分析的物理模型 波场分析的计算实例 相控阵技术 通过电子方法控制压电晶片阵列各激发脉冲的相位，从而控制超声波辐射波场形状的技术，称为超声波相控阵。 声场控制通过在发射脉冲和接收信号的过程中引入相位控制来实现； 相控阵技术可以适用于任何缺陷检测及测量的超声波应用技术领域； 传统的波场控制方法 角度控制 传统的波场控制方法 聚焦 相控阵方法实现波场控制 脉冲发射 相控阵方法实现波场控制 脉冲接收 只有符合“要求”的脉冲信号相位相同，在叠加后得到显著的脉冲信号，其余的信号都削弱了； Focal Laws （聚焦规则） 以一维线阵列为例 仪器的系统结构 超声波仪基本构造 仪器的系统结构 多通道系统 相控阵设备的系统结构 相控阵设备的系统结构 相控阵信号处理流程图 相控阵设备的系统结构 相控阵信号处理流程图 相控阵系统特征参数 主机系统特征参数 相控阵系统特征参数 探头特征参数 相控阵系统特征参数 探头特性参数 频率 (f), 波长 (?) 阵列的晶片总数 (N) 声场控制方向的总孔径 (A) 晶片长度，非控制方向孔径 (H) 每个晶片的宽度 (e) 两有效晶片间距 (d) 晶片分割间隙 (g) 相控阵系统特征参数 靴块参数 靴块声速 (vw) 靴块角度 (?) 第一晶片高度 (h1) 第一晶片偏移量 (x1) 相控阵的聚焦特性 聚焦是将声能量会聚为一个小区域的能力； 借助相控阵技术，可以用一个探头得到聚焦在不同深度的声束； 聚焦规则（即时间延迟与晶片位置的关系）为对称抛物线形状； 聚焦仅能够发生在近场范围内； 当使用1维线阵列探头时聚焦控制仅发生在声束控制平面上； 相控阵的聚焦特性 不聚焦声束： 近场及发散角由孔径A及波长?决定； 近场 发散角（半角 ?, at –6 dB） 声束直径（深度z处） 相控阵的聚焦特性 聚焦声束： 聚焦因子的定义如下： 这里 F : 焦距 N : 近场 声束控制平