宽光谱椭偏仪在集成电路中的分析与应用-analysis and application of broad spectrum ellipsometer in integrated circuit.docxVIP
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宽光谱椭偏仪在集成电路中的分析与应用-analysis and application of broad spectrum ellipsometer in integrated circuit
独创性声明本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工 作及取得的研究成果。据我所知,除了文中特别加以标注和致谢的地 方外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果,也不包含 为获得电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。 与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明 确的说明并表示谢意。作者签名:日期:年月日论文使用授权本学位论文作者完全了解电子科技大学有关保留、使用学位论文 的规定,有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁 盘,允许论文被查阅和借阅。本人授权电子科技大学可以将学位论文 的全部或部分内容编入有关数据库进行检索,可以采用影印、缩印或 扫描等复制手段保存、汇编学位论文。(保密的学位论文在解密后应遵守此规定)作者签名:导师签名: 日期:年月日摘要目前,光谱椭偏测量仪正朝着更小的探测光斑、更短更宽的波段范围方向发 展。微光斑适应现代半导体工艺尺寸越来越小的发展要求,对微尺寸结构的测量, 可以通过扫描方式来获取其微结构信息,它对集成电路制造过程中的工艺及关键 尺寸(CD)的检测具有重要意义。深紫外波段对某些特殊的材料具有更敏感的性 质变化,利用深紫外波段的特殊性质变化,就可以更灵敏地探测这些特殊材料并 研究其性质。更宽波段的光谱范围可更全面地研究材料的光学性质,同时提供更 多波长下的光谱数据,提高测量结果的准确性。本论文研制了一种新型宽光谱椭偏测量仪,采用全反射式聚焦光路设计,有 效消除色差的影响,实现微光斑(约 36??49?m )、深紫外以及宽波段的测量能力。 特别地,为消除全反射式聚焦系统对光偏振态的影响,光路设计中出包含离轴抛 物面镜用于聚焦外,还增加了与其配对的平面反射镜来保持偏振。与常用光谱椭圆偏振测量仪校准方法不同,本论文采用一种利用多个标准样 品校准光谱椭偏测量仪的方法。具体来说,该方法通过对多个已知厚度和已知材 料特性的薄膜样品进行测量,利用测量得到的多个样品的傅立叶系数光谱与包含 未知校准参数的理论光谱之间的比对,通过最小二乘法拟合,回归求解出整个系 统的未知校准参数,包括:偏振器方位角,波片延迟,波片方位角和系统入射角 等。通过该方法得到的各校准参数的角度标准偏差均在0.01度左右,相对标准偏差 在0.05%左右。相对于传统校准方法,该方法具有操作简单、准确和速度快等优点。在系统校准之后,本论文测量了厚度范围为30?~130?的较薄薄膜样品。结果表明,系统测量厚度为1.94?,样品的全光谱拟合优度几乎均在99.6%以上。另外, 还对一维线性光栅的CD和形貌进行了测量,样品的拟合优度在97.3%以上,成功 地实现了用椭偏测量法对集成电路中的CD和形貌的表征。此外,为了改善因电机不稳定而导致个别数据丢失的问题,本文采用FPGA设 计了一脉冲触发电路,采用电机的下一个hall信号同时控制上一个脉冲信号的停止 和下一个脉冲信号的产生,使得上下两个hall信号存在一定的误差容限,从而有效 减少数据丢失的概率。最后,本论文对Mueller矩阵椭偏测量仪中的某些关键技术进行了初步研究, 并通过对部分实验数据的分析,描述了现有系统可能存在的问题,并就此对下一 步的工作计划进行了展望。关键词 光谱椭偏仪;深紫外;微光斑;关键尺寸;集成电路ABSTRACTAt present, the spectroscopic ellipsometer is driving to the orientation of a smaller detected spot, shorter wavelength and broader spectrum range. Small spot size suitable for the smaller and smaller development requirements of semiconductor process, in order to measure some micro-structures samples, we can get their micro-structural information by scanning the samples, which has a great significance for the manufacturing process of integrated circuit and the CD detection. DUV is best for some special materials which has more sensitive characteristic changes in DUV. It can be more sensitivite to study the opt
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