X射线测应力的原理及方法.pptVIP

LOGO X射线应力测定的原理及方法 陈 杉 2011201290 Beijing Institute of Petrochemical Technology 北京石油化工学院 基本原理：通过测量衍射角2θ相对于晶面方位角ψ的变化率来计算试件表面的残余应力。 平面应力状态假设：垂直于表面的正应力和切应力均为零，所测的是与表面平行方向上的应力。 测定的基本原理 理论依据：X射线衍射、广义胡克定律、布拉格方程。 应力 弹性应变 晶面间距 衍射角 宏观残余应力是一种弹性应力。 测定的基本原理 图1 应力与不同方位同族晶面面间距的关系 多晶体 无应力状态 在理想多晶体在各个晶粒当中 不同方位的同族晶面面间距 d均相等 不论X射线从哪个方向入射 不论Ψ角为何值 根据布拉格方程 同族晶面产生的衍射峰其衍射角2θ应该相等 测定的基本原理 多晶体 拉应力状态 测定的基本原理 多晶体 拉应力状态 晶面间距d变小 测定的基本原理 多晶体 拉应力状态 晶面间距d变大 测定的基本原理 多晶体 拉应力状态 确定衍射晶面法线 使之与试样表面法线重合，即Ψ=0° 多晶体 拉应力状态 设置X射线管 Ψ=0° 多晶体 拉应力状态 入射线 多晶体 拉应力状态 入射线 衍射线 多晶体 拉应力状态 计数管 扫描 入射线 衍射线 多晶体 拉应力状态 衍射峰 多晶体 拉应力状态 根据布拉格方程：2dS