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千分尺的使用和校准 CTI检测机构 校准实验室 齐凡 内容 千分尺----概述 特点：符合阿贝原理、精度高、使用方便 阿贝原理：被测量线应与测量线相重合或在其延长线上 外径千分尺的分度值一般为0.01mm和0.001mm,移动量为25mm. 有测力装置,保持恒定的测量力. 千分尺的分类和结构 千分尺的分类和结构 千分尺的分类和结构 千分尺的分类和结构 千分尺的工作原理和读数方法 工作原理:运用螺旋副传动原理，借助测微螺杆与螺母配合，将螺杆的回转运动变为直线运动，从固定套管和微分筒上读出长度尺寸。 读数原理:微分筒读数以固定套管的纵刻线为基准线，纵刻线上下有50个分度，每个分度为0.5mm.微分筒圆周刻有50个等分,测微螺杆的螺距为0.5mm, 微分筒旋转一周.微分螺杆移动0.5mm,微分筒旋转一个分度时（1/50转）测微螺杆移动0.01mm. 千分尺的工作原理和读数方法 读数举例： 千分尺的校准和技术要求 按现行有效版本JJG21-2008 主要校准设备 3、4等量块（专用量块） 平面平晶、平行平晶、刀口尺 专用测力仪 杠杆千分表、百分表, 塞尺，立式接触式干涉仪或测长机 校准所需设备实物图示 千分尺的校准和技术要求 校准项目、方法及通用技术要求 一、外观和各部分相互作用:目力观察和手动试验 二、测微螺杆的轴向窜动和径向摆动：手感检查 必要时使用杠杆千分尺检查（ ） 千分尺的校准和技术要求 三、测力：用分度值不大于0.2N的专用测力计 测力应为（5～10）N 四、微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离： 用0.4mm的塞尺置于固定套管上比较测量（ ≤ 0.4mm ） 五、微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对距离： 当测量下限调整正确后，读取微分筒的零刻线与固定套管纵 向刻线右边缘的偏移量 要求：压线≤0.05mm 离线≤0.1mm 千分尺的校准和技术要求 六、测量面的平面度:用平面平晶以技术光波干涉法 对于后续校准的可用刀口尺以光隙法 要求: 外径千分尺 ≤0.6um 壁厚、板厚千分尺 ≤1.5um 数显外径千分尺 ≤0.3um 七、数显外径千分尺的示值重复性：在相同条件下重复测量5次分别读数，以最大与最小读数差确定 要求： ≤1um 千分尺的校准和技术要求 八、两测量面的平行度：测量上限至100mm用平行平晶检查，或可用量块检查。采用量块时，其4块尺寸差为1/4螺距，每个量块以其同一部位放入下图所示的测量面间的4个位置上分别读数，以四组差值中最大值来确定。 千分尺的校准和技术要求 千分尺示值的最大允许误差及两测量面的平行度 千分尺的校准和技术要求 九、示值误差: 外径（壁厚、板厚）用5等量块,数显用4等量块校准.或用千分尺专用量块. 在测量范围内均匀分布5点放入量块直接测量. (A+5.12, A+10.24, A+15.36, A+21.50, A+25.00) A---测量下限值 示值误差要求上表 千分尺的校准和技术要求 十、数显千分尺的细分误差: 在任意位置上,沿测量方向转动微分筒,每间隔0.04mm检查一次,共计12次,分别读出各受检点数显值与微分筒读数值之差,以其最大差值确定. 要求≤±2um 十一、校对用量杆（尺寸及变动量）: 外径: 在光学计或测长机上用4等量块以比较法 数显: 在光学计或测长机上用3等量块以比较法 千分尺的校准和技术要求 千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量 千分尺的正确使用和注意事项 测量前应将测量面及被测件擦试干净，等温2H（20℃±5） 千分尺的零位调整 千分尺两测量面与量块接触时,要使用测力装置,不要转动微分筒,以测力装置的棘轮断续响3声读数为准 原始记录表 * * LOGO 通用量具知识讲解 千分尺的概述 1 千分尺的结构、工作原理和读数 2 千分尺的校准和技术要求 3 千分尺的正确使用和注意事项 4 数显外径千分尺 固定测砧 微分丝杆 紧固螺钉 微分筒 测力装置 数字显示屏 功能按钮 隔热装置 5 0 5 10 0 5.544mm 8.465mm 要求≤0.01mm 要求：见下表 ±13 / ±7 450～475, 475～500