结晶度有用PPT.ppt

　 1985年，加拿大文物保护协会（CCI） 曾利用XRD对一件被作为凡高作品出售 的油画颜料进行分析鉴定。分析的结果 令人出乎人们预料，在这件所谓的凡高 的作品中，居然发现了大量的金红石 （rutile）的存在。作为白色颜料使用， 二氧化钛（titaniumdioxide）一般以两 种状态存在：金红石和锐钛矿（anatase） 。锐钛矿作为白色颜料使用是从1825年 开始的，而金红石作为白色颜料直到1938 年才开始生产。这两种物质具有相同的 化学成分而具有不同的晶体结构，XRD 是分辨这两种物质非常有效的手段。 因为金红石的存在，就使得这幅油画的创作 时间不可能早于1938年，这与凡高的生活时期 （1853~1890）是不相符的。 例2 晶体类型的鉴别 * 第七章 X－射线法 主要内容： 1.大角X射线衍射法（WAXD) （1）原理 （2）应用 2.小角X射线散射法（SAXS) （1）原理 （2）应用 1.大角X射线衍射法（WAXD) 1.1 X射线的产生－－原子结构壳层理论 高速电子流与原子相碰撞时，如果电子的能量足够大，可将原子中K层电子撞出电子壳层，在K壳层中形成空位，原子系统能量升高，使体系处于不稳定的激发态。这些电子会将多余的能量以X射线光量子的形式释放。 1.2 X射线的性质 X射线是一种电磁波，具有波粒二象性； X射线的波长： 10－2 ~ 102 ? X射线具有一定能量、动量的X光流子 1.2 X射线的性质 X射线具有很高的穿透能力，可以穿过黑纸及许多对于可见光不透明的物质； X射线肉眼不能观察到，但可以使照相底片感光。在通过一些物质时，使物质原子中的外层电子发生跃迁发出可见光； X射线能够杀死生物细胞和组织，人体组织在受到X射线的辐射时，生理上会产生一定的反应。 1.3X射线在晶体中衍射的基本原理 电子束照在阳极靶上产生X射线，X射线照在待分析的晶体上时，如果满足Bragg公式nλ =2d sinθ这一条件， X射线就会在晶体上发生衍射，检测器可以检测到具有一定强度的X射线。那些不满足Bragg公式的射线，就会透过或吸收而不被检测到。 Braag方程 光程差? = AB + BC = dsin? + dsin? = 2dsin? 满足衍射的条件为： 2dsin? = n? d为面间距， ?为Bragg角。这即为Bragg方程。 Bragg方程反映了X射线在反射方向上产生衍射的条件，借用了光学中的反射概念来描述衍射现象。与可见光的反射比较，X射线衍射有着根本的区别： 1、单色射线只能在满足Bragg方程的特殊入射角下有衍射。 2、衍射线来自晶体表面以下整个受照区域中所有原子的散射贡献。 3、衍射线强度通常比入射强度低。 4、衍射强度与晶体结构有关，有系统消光现象 1.4实验方法 多晶X射线衍射法 多晶X射线衍射是指以多晶材料或多晶聚集体为试样的衍射试验。 晶粒的某族晶面与入射X射线的夹角满足Bragg方程时，会产生x衍射。实验产生的衍射是大量的小晶粒发生衍射的总的结果。 高聚物呈晶态、半晶态、非晶态，可用x射线衍射来分析。按记录方式的不同可分为：多晶照相法和多晶衍射法。 1.4.1 多晶照相法 多晶照相法是将一束近平行的单色X射线投射到多晶样品上，用照相底片记录衍射线束强度和方向的一种实验法。 1.4.1.2 样品要求 a. 细度：10-3cm～10-5cm（过250目～300目筛） b. 制成直径为0.3mm～0.6mm，长度为1cm的细圆柱状。 多晶照相法测试样品的粒径通常在10-3cm~10-5cm之间，每个颗粒又可能包含了好几个晶粒，因此，试样中包含了无数个取向不同但结构向同的小晶粒。  当一束单色X射线照射到样品上时，对每一族晶面，总有某些小晶粒的晶面族能够恰好满足Bragg条件而产生衍射。由于试样中小晶粒数巨大，所以满足Bragg条件的晶面族也较多，与入射线的方位角都是θ，因而可看作是由一个晶面以入射线为轴旋转而得到，如下图所示。 多晶照相法 平板照相法 Derby照相法 1.4.1.3 多晶照相法的应用 德拜照相法底片实验数据的测量主要是测定底片上衍射线条的相对位置和相对强度，然后根据测量数据再计算出θ和晶面间距d。 定性判断结晶情况 a.有无结晶 b.晶粒是否取向； c.取向度 多晶照相法的应用 1.4.2多晶X衍射仪法 1.4.2.1衍射仪介绍  X射线衍射仪是采用衍射光子探测器和测角仪来记录衍射线位置及强度的分析仪器 2θ 样品