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第五章 x射线物相分析(课件)

§1 X射线物相分析 材料或物质的组成包括两部分:一是确定材料的组成元素及其含量;二是确定这些元素的存在状态,即是什么物相。 材料由哪些元素组成的分析工作可以通过化学分析、光谱分析、X射线荧光分析等方法来实现,这些工作称之成分分析。 材料由哪些物相构成可以通过X射线衍射分析加以确定,这些工作称之物相分析。 例如对于钢铁材料(Fe-C合金),成份分析可以知道其中C%的含量、合金元素的含量、杂质元素含量等等。但这些元素的存在状态可以不同,如碳以石墨的物相形式存在形成的是灰口铸铁,若以元素形式存在于固溶体或化合物中则形成铁素体或渗碳体。究竟Fe-C合金中存在哪些物相则需要物相分析来确定。用X射线衍射分析可以帮助我们确定这些物相; 进一步的工作可以确定这些物相的相对含量。前者称之X射线物相定性分析,后者称之X射线物相定量分析 §2 X射线物相定性分析 X射线物相分析是以晶体结构为基础,通过比较晶体衍射花样来进行分析的。 对于晶体物质中来说,各种物质都有自己特定的结构参数(点阵类型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的数目、位置等),结构参数不同则X射线衍射花样也就各不相同,所以通过比较X射线衍射花样可区分出不同的物质。 当多种物质同时衍射时,其衍射花样也是各种物质自身衍射花样的机械叠加。它们互不干扰,相互独立,逐一比较就可以在重叠的衍射花样中剥离出各自的衍射花样,分析标定后即可鉴别出各自物相。 目前已知的晶体物质已有成千上万种。事先在一定的规范条件下对所有已知的晶体物质进行X射线衍射,获得一套所有晶体物质的标准X射线衍射花样图谱,建立成数据库。 当对某种材料进行物相分析时,只要将实验结果与数据库中的标准衍射花样图谱进行比对,就可以确定材料的物相。 X射线衍射物相分析工作就变成了简单的图谱对照工作。 1936年由Hanawalt提出,公布了上千种物质的X射线衍射花样,并将其分类,给出每种物质三条最强线的面间距索引(称为Hanawalt索引)。 1941年美国材料实验协会(The American Society for Testing Materials,简称ASTM)提出推广,将每种物质的面间距d和相对强度I/I1及其他一些数据以卡片形式出版(称ASTM卡),公布了1300种物质的衍射数据。以后,ASTM卡片逐年增添。 1969年起,由ASTM和英、法、加拿大等国家的有关协会组成国际机构的“粉末衍射标准联合委员会”,负责卡片的搜集、校订和编辑工作,所以,以后的卡片成为粉末衍射卡(the Powder Diffraction File),简称PDF卡,或称JCPDS卡(the Joint Committee on Powder Diffraction Standarda)。 粉末衍射卡的组成 粉末衍射卡(简称ASTM或PDF卡)卡片的形式如图所示 PDF卡片的内容(1) (1)1a、1b、1c,三个位置上的数据是衍射花样中前反射区(2 θ 90°)中三条最强衍射线对应的面间距,1d位置上的数据是最大面间距。 (2)2a、2b、2c、2d,分别为上述各衍射线的相对强度,其中最强线的强度为100. PDF 卡 片 的 内 容(2) (3)实验条件:Rad.—辐射种类(如Cu Kα);λ—波长;Filter—滤波片;Dia.—相机直径;Cut off—相机或测角仪能测得的最大面间距;Coll—光阑尺寸;I/I1—衍射强度的测量方法;d corr.abs.?—所测值是否经过吸收校正;Ref—参考资料 PDF卡片的内容(3) (4)晶体学数据:Sys.—晶系;S.G—空间群;a0、b0、c0,α、β、γ—晶胞参数;A= a0/b0 ,C= c0 / b0 ;Z—晶胞中原子或分子的数目; Ref—参考资料。 (5)物理性质: εα、nωβ、εγ—折射率;Sign—光性正负;2V—光轴夹角;D—密度;mp—熔点;Color—颜色; Ref—参考资料。 PDF 卡片 的内 容(4) (6)试样来源、制备方法及化学分析数据。此外,如分解温度(D.T.)、转变点(T.P.)、摄照温度、热处理、卡片的更正信息等进一步的说明也列入此栏。 PDF 卡片 的内 容(5) (7)物相的化学式和名称。 在化学式之后常有一个数字和大写英文字母的组合说明。数字表示单胞中的原子数;英文字母表示布拉菲点阵类型:C—简单立方;B—体心立方;F—面心立方;T—简单正方;U—体心正方;R—简单菱方;H—简单六方;O简单斜方; P—体心斜方; Q—底心斜方;S—面心斜方;M—简单单斜;N—底心单斜;Z—简单三斜。 PDF卡 片 的

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