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数据块合并技术在测试数据压缩中应用 　　摘要：由于测试集中存在着大量的无关位，从而使得一些连续的数据块之间出现相容的情况。针对这一情况，提出了一种新的基于数据块合并的测试数据压缩方法，将一连串的相容数据块用一个合并块及其重复次数表示，然后分别对合并块和重复次数进行编码。解压时，先解压合并块和重复次数的编码字，然后利用重复次数来控制合并块的重复利用。这种压缩方法在压缩测试数据时不需要考虑被测电路的内部信息，因此非常适用于SoC中的IP核测试。基于ISCAS-89标准电路的实验结果表明，与传统的基于编码的压缩技术相比，该技术是非常有效的。 　　关键词：数据块相容数据块合并合并块压缩/解压 　　中图分类号：TP39文献标识码：A文章编号：1007-3973（2012）004-074-03 　　1引言 　　随着当今工艺技术的不断发展, 一个芯片上能够集成的 IP核越来越多, 功能越来越复杂, 从而使得测试芯片所需要的测试数据量也随着集成电路复杂度的提高而急剧增大。有资料表明, 到2014年, 片上系统（Systems-on-Chip,SoC）的测试数据量将是 1999年的 150倍大量的测试数据不仅增大了测试时间，而且给自动测试设备（Automatic Test Equipment,ATE）的存储容量、测试通道、速度等带来了严峻的挑战。 　　一种有效减少测试数据量的方法是采用测试数据压缩技术,测试数据压缩技术是采用位数较少的数据来代替原来的测试数据，将这些较少的测试数据存储在ATE的存储单元中，然后将它们传输给被测电路中的解码器，从而还原成原来的测试数据进行测试，其具体原理如图1所示。测试数据压缩方法不仅减少了ATE的存储要求，也减少了测试时间等。测试数据压缩方法主要可分成以下三类：(1)基于编码的压缩方法；(2)基于线性解压的方案；(3)基于广播扫描的方案。 　　基于编码的压缩方法是对预先计算好的测试数据进行编码压缩, 然后由芯片内置的解码电路将编码还原成原始测试向量并施加到待测电路上。按照分块与编码位数的不同，又可分为定长-定长编码方案，如字典编码、定长-变长编码方案，如Selective Huffman编码、9C码、变长-定长编码方案,如参考文献[5]、变长-变长编码方案，如RL-Huffman编码、Golomb编码、FDR、VIHC。 　　本文提出了一种基于数据块合并的测试数据压缩方法，将一连串的相容数据块用一个合并块及其重复次数表示，然后分别对合并块和重复次数进行编码。解压时，先解压合并块和重复次数的编码字，然后利用重复次数来控制合并块的重复利用。这种压缩方法在压缩测试数据时不需要考虑被测电路的内部信息，因此非常适用于SoC中的IP核测试。 　　2数据块合并 　　2.1数据块合并 　　数据块合并技术是一种分块编码，将一个测试集划分成若干个长度为B的数据块，然后按照数据流的方向，检查每个数据块与其后面一个数据块是否相容，若相容，则将它们合并到一个合并块中，并对相应的无关位进行填充，例如，相邻两数据块x0xx和1xxx相容，那么将他们合并成一个合并块10xx。该技术不断的将连续的相容块合并到一个合并块中，直到下一数据块与当前合并块不相容为止，并用NC来记录当前合并块中合并的相容数据块个数。通过数据块合并之后，将一连串的相容数据块用一个合并块及其重复次数表示，为了进一步提高测试数据压缩率，本文分别对合并块及其重复次数进行编码压缩。 　　对于数据流中NC的各种取值情况（假如有N种），本文采用选择huffman编码与字典编码相结合的编码方法对其进行压缩，与合并块编码相似，也是通过统计各种NC出现的次数来构建一棵Selective Huffman树。并且也只针对发生频率最高的前X个NC值构建一个选择huffman树，与合并块编码不同的是，对于剩下来的其余NC取值，本文采用字典编码方法进行编码。在编码时，用一位标记位来表示当前NC值是采用Huffman编码字表示还是采用字典编码字表示，当标记位为0时，表示用Huffman编码字表示，当标记位为1时，表示用字典编码字表示。值得注意的是，在字典编码时，为了提高压缩率，不再采用长度为的编码字来表示，而是采用X位的编码字来表示，这是因为部分NC的值参加Huffman编码，使得。另外，为了不影响压缩效果， X与NC之间必须满足不等式关系。 　　为了说明本方法的有效性，在测试集中截取一段数据进行举例说明，如图2所示。经过数据块合并之后，其合并块及其重复次数NC如表1所示。然后分别对合并块及其重复次数NC进行编码，其中表2显示了合并块与其编码字之间的对应关系本实例中N=3，所以通过上面不等式得到X=1，重复次数NC与其编码字的对应关系。最终，共33位，压缩率高达67%。