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数字电子实验内容
试验一 组合逻辑门测试
做74LS00 74LS20 74LS86三个芯片的逻辑功能测试，表格用表4.5 表4.6（00，02通用）表4.8
试验二 逻辑电路设计与分析
利用74LS00与74LS20设计半加器电路与三人表决电路，要求课前写出真值表，画出电路图并且在课堂上完成电路连线与测试。
注：半加器有两个输入A、B，两个输出S、C，C是进位
试验三 MSI全加器及其应用
所需元件：
74LS283 四位二进制全加器 1片
74LS00 四二输入与非门 1片
试验内容：
74LS283芯片逻辑功能测试，并利用74LS283设计一个代码转换电路，把四位余3码用十进制数在LED七段数码管上显示出来。要求课前写出真值表，画出电路图并且在课堂上完成电路连线与测试。
试验四 MSI译码器及其应用
所需元件：
74LS138 3-8线译码器 1片
74LS00 四二输入与非门 1片
试验内容：
74LS138芯片逻辑功能测试，并利用74LS138与74LS00芯片设计4-16线译码器。要求课前写出真值表，画出电路图并且在课堂上完成电路连线与测试。
试验五 MSI数据选择器测试与应用
所需元件：
74LS153 双四选一数据选择器 1片
74LS00 四二输入与非门 1片
试验内容：
74LS153芯片逻辑功能测试，并利用74LS153与74LS00芯片设计一个全加器。要求课前写出真值表，画出电路图并且在课堂上完成电路连线与测试。该设计有一定困难。
试验六 集成触发器及其应用
所需元件：
74LS112 双JK触发器 2片
74LS00四二输入与非门 1片
试验内容：
74LS112芯片逻辑功能测试，并利用74LS112设计一个脉冲累加器。要求课前画出电路图并且在课堂上完成电路连线与测试。
试验七 MSI计数器及其应用
所需元件：
74LS160 十进制可预置同步计数器 1片
74LS00 四二输入与非门 1片
试验内容：
74LS160芯片逻辑功能测试，并将74LS160改接成六进制计数器。要求课前画出电路图并且在课堂上完成电路连线与测试。
试验八 MSI移位寄存器及其应用
所需元件：
74LS194 4位双向移位寄存器 1片
74LS00 四二输入与非门 1片
试验内容：
74LS194芯片逻辑功能测试，并利用74LS194设计一个扭环形计数器。要求课前写出全状态图，画出电路图并且在课堂上完成电路连线与测试。
最后一节考试，考试内容为以上实验抽取一个进行新设计，并在试验箱上实现设计内容（与平时所作会有一定变化），显示现象。考试分数分为两块，设计分与实现分，设计电路图正确则获得设计分，在试验箱上实现完全正确的现象，则获得实现分。仪器设备的损坏需自行排查解决。
关 2011-5-5
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