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投影仪屏幕系统光场亮度分布数学模型 　　摘要： 　　针对大型多投影仪显示墙系统中亮度分布差异的校正问题，提出一种描述投影仪屏幕系统光场亮度分布的数学模型。该数学模型整合投影仪镜头渐晕、屏幕漫反射和屏幕曲面的数学模型，形成一个带有28个可调参数的精确描述影仪屏幕系统光场亮度分布方程。基于该数学模型，工程人员可通过测量投影屏幕上稀疏位置的亮度值，采用非线性最小二乘方法确定一个特定投影仪屏幕系统的模型参数，完成其亮度分布的测量。实际应用表明，所提出的数学模型可以广泛适用于各种类型的投影仪屏幕系统光场亮度分布的描述，有效降低大型多投影仪显示墙系统构建工程的复杂度，改善投影显示效果。 　　关键词：光场亮度分布；非线性最小二乘；多投影显示；镜头渐晕 　　中图分类号：TP393 　　文献标志码：A 　　0引言 　　多投影融合显示系统是由多台投影仪通过拼接显示而组成的大规模显示设备，具有成本低和扩展性强等优势，是缓解实际工程中对超高分辨率显示屏幕不断增长的需求与单台显示设备分辨率发展缓慢之间矛盾的重要手段。经过近十多年的迅速发展，多投影融合显示系统中的几何、色彩校正和边缘融合技术已较为成熟，并被许多投影显示墙系统供应商作为独立产品提供[1]。 　　在带有大范围、大畸变投影仪屏幕的大型多投影仪拼接显示系统中，各投影仪与屏幕的相对位置会有很大的不同，造成投影仪之间和投影仪内部的亮度分布存在较大差异[2]。为投影出视觉无缝的画面，必须对投影仪进行硬件或软件亮度校正消除这些差异，而亮度校正的基础是精确测量全部投影仪每个像素位置的亮度信息。然而，现有针对多投影仪显示墙构建的研究成果大多集中于几何校正[3-10]、色彩校正[1-2， 11-14]和边缘融合[2， 15-18]等步骤，对投影图像在不同曲面上的亮度分布规律性研究较少。一些仅有的投影仪亮度校正研究成果[1，7，19]也缺乏对投影亮度分布规律的研究，而是使用照度计等测量设备逐像素点测量的方式进行手工校正或半自动迭代修正，不利于大型虚拟现实环境构建的工程化实施。以文献[20]为代表的基于数字相机的测量方法测量速度虽然较快，但容易受到相机电荷耦合元件（ChargeCoupled Device，CCD）传感器随机噪声的影响，在工程实施上存在严重缺陷：当数字相机和投影画面之间存在其他物品遮挡时（此情况是实际工程中时常出现的），测量步骤将无法进行。 　　造成这些问题的一个主要原因是缺乏精确描述“投影仪屏幕系统”亮度分布的数学模型，现有测量手段本质上都是针对逐个像素点的密集测量校正的方法。密集测量方法的缺点是必须保证所有像素都被测量到才能给出最终结果，这将很大程度上降低其在工程化实施中的可操作性[1]。同时，密集测量方法的精度也严重依赖几何校正步骤的精度，使建立多投影仪显示墙系统的各部分工序耦合性过强，从而降低整个系统的鲁棒性。 　　本文通过建立“投影仪屏幕系统”的光场数学模型，仅需测量投影区域中稀疏点的反射亮度即可估计出整个投影区域的亮度分布，具有较快的测量速度并较少受到噪声和遮挡的影响。使用该数学模型后，灵活采用照度计测量投影区域稀疏点的反射亮度或采用数字相机测量投影区域稀疏色块的平均反射亮度即可完成测量，其测量过程独立于几何校正步骤，特别适合在复杂的实际工程环境中快速测量投影仪屏幕亮度场。 　　1数学模型 　　在涉及定量操控投影仪的工程领域，投影仪内部响应数学模型的建立工作具有举足轻重的作用。各个投影仪生产厂商并不会公布其产品内部元器件的定量化数据[21]，而投影仪内部元器件的性能也随着投影仪所处环境和使用时间不同而不断发生变化。这些实际情况致使建立投影仪内部响应数学模型的工作异常艰难。现有研究结果过多集中于建立投影仪单个像素位置上对输入和输出间非线性关系的数学模型，而对投影仪不同像素位置间面对同样的输入却产生不同的亮度输出这种非线性关系的数学模型研究较为缺乏。 　　本章将对投影仪镜头渐晕现象[22]、投影屏幕漫反射和投影屏幕曲面分别建立数学模型，最终合成投影仪屏幕系统光场亮度分布的数学模型，为工程中快速测量投影仪屏幕系统光场亮度分布奠定理论基础。 　　2工程化测量方法 　　实际工程测量时，本文构造了方格亮度块图像用于投影图像亮度分布特性的稀疏测量，并使用二进制编码的特征图像进行几何标定[5]。由于只需要稀疏的测量数据，可使用较大的方格块并计算方格内部像素的平均值以抵制噪声影响。几何标定也仅需要稀疏的二进制编码，精度大为提高并适用任意投影屏幕。需要说明的是，亮度测试图像的二进制编码方式与本文提出数学模型是相互独立的，也可采用其他亮度测量方式（如照度计等设备）为本文数学模型提供初始测量值。 　　3实验结果及分析 　　为验证本文提出数学模型的有效性，本章将给出投影仪在柱