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材料分析化学第5讲结构分析;材料结构分析引言;X射线衍射分析;X射线的产生;X射线的产生源;X射线的产生;连续X射线谱;特征X射线的产生机理;特征X射线的产生;特征X射线;几种常用阳极靶材料的特征谱参数 ;X射线的产生;X射线衍射分析 ;相干散射和非相干散射;X射线的吸收 ;X射线与物质的相互作用;清华大学化学系;X射线的衰减 ;X射线的吸收;X射线的吸收;X射线的虑波;X射线与物质的相互作用;X射线衍射的基本原理 ;X射线衍射;衍射过程;Bragg方程;① 选择反射;② 产生衍射的极限条件;③反射级数;典型样品的XRD衍射;X射线的衍射强度 ;衍射强度;X射线衍射的方法 ;多晶衍射仪的组成 ;样品要求;样品的制备; X射线衍射的物相分析 ;定性分析 ;粉末衍射卡片 ;第1部分 ;应用方法;自动检索;定量分析 ;几种具体定量测试方法;宏观残余应力的测定 ;残余应力;测量原理;测量原理;测量原理;残余应力测定;薄膜分析;薄膜掠射分析：薄膜相分析;;薄膜的XRD研究;材料状态鉴别;;晶粒度的测定;对于TiO2纳米粉体，其主要衍射峰2θ为21.5 °，可指标化为101晶面。 当采用CuKα作为X射线源，波长为0.154nm，衍射角的2θ为25.30 °，测量获得的半高宽为0.375 °，一般Sherrer常数取0.89。 D101＝Kλ/B1/2cosθ＝0.89×0.154×