光学材料及元件中应力双折射的图像测量.docVIP

光学材料及元件中应力双折射的图像测量 光学元件内部应力产生的双折射效应会影响到光的偏振状态，而这在微平板印刷、激光光学和天文学等应用方面是不能容忍的。通常，精确测量微小应力双折射的要求非常苛刻。而能够同时给出应力双折射空间分布及其方向的图像偏振测量仪，使这一问题得到了很好的解决。 在不太严格的条件下，光学玻璃通常可认为是均匀的，其折射率在各个方向上处处相等的。但是，由材料原因或者生产过程形成的应力会使材料的结构发生形变，从而沿轴向产生了局部密度差异。光在介质中的传播速度与材料密度有关，局部密度的变化导致了光在介质中传播时的速度差异，以及与方向相关的折射率的改变。介质在应力的作用下产生的双折射现象，就是所谓的应力双折射(SBR)。 除了光学上各向同性的材料外，也同样存在着许多自然形成的光学各向异性材料，也就是我们所熟知的双折射材料，例如方解石和石英晶体。对于这些材料，在机械应力的作用下也能看到折射率比的变化，这些变化可以如此之大以至于造成晶体材料的损伤。甚至于局部折射率的微小变化也会对光学元件的成像质量产生负面影响，从而影响其功能。此外，双折射改变了透射光的偏振状态，这在诸如计量等应用方面是有害的。因此，在光学材料及元件的制造中，精确确定应力双折射及其空间分布是极其重要的。 1.光弹效应 从原理上讲，可以通过光沿不同轴向的传播速度来测量应力。直接测量光速差就能够得到双折射及应力。然