近代测试技术 知识点总结(研究生课件).docVIP

1、X射线衍射分析（XRD：X-ray diffraction） X射线衍射分析主要用于物相分析和晶体结构的测定。它所获取的所有信息都基于材料的结构。X射线和光相同，是一种电磁波，显示波-粒二相性，但波长较光更短一些。X射线的波长范围0.001--100nm。 连续X射线 　 按量子理论，当能量为eV的高速的电子撞击靶中的原子时，电子失去自己的能量。其中大部分转化为热能。一部分以光子（X射线）的形式幅射出。每撞击一次就产生一个能量为hv的光子。由于单位时间内到达靶表面的电子数量很多，但大多数电子还经过多次碰撞，因此，各个电子的能量各不相同，产生的X射线的波长也就不同。于是产生了一个连续的X射线谱。其中少数电子在一次碰撞中就将能量全部转化为光子，因此它产生的光子能量最大，波长最小。其短波限λ0取决于能量最大电子，并与管压有关。由于X射线的强度取决于光子的数目。所以连续X射线谱的最大值不在λ0的位置。 短波限 特征X射线谱 高能电子把原子的内壳层电子打出，使原子电离，外壳层电子向内壳层电子跃迁，跃迁的能量差转化为一个X射线的光子。由于对一定种类的原子，各层能量是一定的，频率不变，具有代表原子特征的固定波长，故称为特征X射线。特征谱的波长不受管压和管流的影响，只决定于阳极靶材的原子序数。对一定材料的阳极靶，产生的特征谱的波长是固定的，此波长可作为阳极靶材的标志或特征。特征X射线的辐射强度随管压U和管流i的增大而增大 不同靶材的同名特征谱线，其波长λ随靶材原子序数Z的增大而变短----------莫塞莱定律 吸收限的应用 （1）阳极靶的选择 对于每一试样而言，所选靶的Kα应比试样的吸收限稍长一些，或者短很多，这样不会引起样品的荧光辐射。原则是：Z靶≤Z样品+1 或 Z靶Z样品应当避免使用比样品中的主元素的原子序数大2-6(尤其是2)的材料作靶材的X射线管。实际工作中最常用的是Cu及Fe和Co靶的管。Cu靶适用于除Co、Fe、Mn、Cr等元素为主的样品。EG：铁为主的样品，选用Co靶,不选用Ni或Cu靶。 （2)滤光片的选择 利用吸收限两边吸收系数相差十分悬殊的特点，可制成X射线滤光片。 K系特征谱线包括Kα和Kβ两条线，如果选择适当的材料，使其K吸收限波长λk正好位于所用的Kα和Kβ的波长之间，通过强烈吸收Kβ线，而对Kα线吸收很少，从而获得单色Kα辐射。 滤波片的材料依靶的材料而定。一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。当Z靶＜40时， Z滤=Z靶-1 当Z靶≥40时， Z滤=Z靶-2 EG：铜靶的滤光片一般选Ni和Co。 波产生干涉的条件：振动方向相同，波长相同、位相差恒定， 即它们是相干的。相长干涉：当波程差△为波长的整数倍, nλ时，两个波相互加强。相消干涉：当波程差为半波长的奇数倍，(n+1/2)λ时，二者刚好相互抵消。 X射线也是一种电磁波，当它照射晶体时，晶体中的质点对入射X射线产生相干散射。这些散射波满足波产生干涉的条件。X射线在晶体中衍射的本质是晶体中各原子散射波之间的干涉结果。 布拉格方程 2dsinθ=nλ n称反射级数。θ角称掠过角或布拉格角。 布拉格方程的意义： ①当X射线照射到晶体上时，若入射X射线与晶体中某个晶面（hkl)之间的夹角满足布拉格方程，在其反射线的方向上就会产生衍射线。 ②布拉格方程简明地指出了X射线衍射的方向。其现象相似于光的镜面反射。故常把X射线的衍射称为X射线反射。 物相分析 物相分析是指确定物质（材料）由哪些相组成（即物相定性分析或称物相鉴定）和确定各组成相的含量（常以体积分数或质量分数表示，即物相定量分析）。物相定性分析原理：物质的X射线衍射花样特征是分析物质相组成的“指纹脚印”。制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化，将待分析物质(样品)的衍射花样与之对照，从而确定物质的组成相，这就是物相定性分析的基本原理与方法。定量分析的任务是确定物质(样品)中各组成相的相对含量。 例：Mgcl2粉磨前后晶粒的变化 用X射线衍射仪摄取MgCl2样品经9h球磨前后的衍射图，用CuKα线λ=0.154nm, 样品003晶面布拉格角θ=7.5°， 110晶面布拉格角θ=25.1°, 研磨前样品003衍射峰半宽度为0.4°，110衍射峰半宽度0.6°， 研磨后样品003衍射峰半宽度为1.1°，110衍射峰半宽度1.0°。 根据谢乐公式：D＝0.9λ/(β－β0)cosθ 003晶面衍射： β－β0＝ 1.1°- 0.4°=0.7°=0.01222弧度 D003＝(0.9*0.154)/(0.01222*cos7.5°)=11.5nm 同理110晶面衍射： D110＝22.0nm 可见，经球磨后晶粒大小的平均值为