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嵌入式存储器内建自测试一种新型应用 　　摘要：当今，嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大，成为SoC芯片发展的一个显著特点。由于本身单元密度很高，嵌入式存储器比芯片上面的其它元件更容易造成硅片缺陷，成为影响芯片成品率的一个重要因素。本文对采用MARCH-C算法的嵌入式存储器内建自测试进行了改进，实现了对嵌入式存储器故障的检测和定位，能够准确判断故障地址和故障类型，使嵌入式存储器故障修复更加快捷、准确，同时达到故障覆盖率高、测试时间短的目的。 　　关键字： SoC嵌入式存储器MARCH算法故障检测 　　 　　1、引言 　　 　　在当代SoC设计中，以前逻辑设计占压倒分量的情况正在悄悄改变，嵌入式存储器模块在其中所占的比例越来越大，使得可以存储越来越复杂的程序和数据，实现众多的复杂功能。这种趋势不但增加软硬件协同设计的难度，而且在芯片的成品率控制和故障检测方面也引发了新的技术难题。 　　SoC芯片上存储器数目增加将使芯片层数增多、制造工艺更为复杂并增大单元密度，片上存储块的失效率明显增加，这成为SoC芯片成品率下降的一个主要原因。因此必须采用新的故障模型和故障检测方法。 　　在嵌入式存储器测试的诸多算法当中，MARCH算法是最为有效的，因为它测试复杂度低，所用时间短，故障覆盖率高。由于目前SoC芯片功能越来越复杂，内部频率越来越高，传统的测试方法已经不再适应当前的SoC测试了。内建自测试（BIST）随着SoC技术的发展渐渐引起了人们的重视。虽然BIST电路会占用芯片面积，并且可能对原有设计有所影响，但BIST电路却可以有效地缩短测试时间，基本上实现全速测试（At speed test），在存储器测试当中有着很大的应用。在嵌入式存储器的故障检测和定位应用当中，主要是将MARCH算法的思想很好的应用到BIST电路当中，可以把MARCH算法简洁快速的特点和BIST电路易于实现的特点有机的结合。应用MARCH算法的BIST电路，我们统称MBIST电路。同时为适应嵌入式存储器易出错而导致整个SoC系统失效的形势，本研究在MBIST电路的基础上，增加了故障报错和定位的功能，使得我们在知道嵌入式存储器有故障发生的同时，还可以知道具体发生故障的存储单元，便于进行故障修复，提高芯片成品率，减少SoC芯片制造成本。 　　 　　2、基于嵌入式存储器的故障模型 　　 　　根据嵌入式存储器的结构和工艺特点，我们把具体的工艺故障抽象为行为级模型，方便设计相应的模块来进行测试。对于嵌入式存储器，故障的行为模型主要有5种，分别是：固定故障、状态转换故障、耦合故障、图形敏感故障、寻址故障。 　　 2.1 固定故障（SAF Stuck-at fault）是存储器的某个单元或某条线固定为逻辑0或者逻辑1上不变。 　　 2.2 状态转换故障（TF Transition fault）是固定故障中的一个特殊情况，指某个单元或某条线在经过一个写操作以后不能实现0到1或者1到0的转换，分别叫做上升状态转换故障和下降状态转换故障。 　　 2.3耦合故障（CF Coupling fault）是指在两个单元当中，由于一个单元的状态转换而致使另外一个单元的内容发生了变化。这叫做2耦合故障，就是只涉及两个单元；还有k耦合故障。K耦合故障也是两个单元之间的耦合，但只有当另外（k－2）个单元处于某种状态时，故障才会发生。耦合故障具体还有下列5种模型。 　　 2.3.1 翻转耦合故障（Inversion Coupling fault）是指一个单元中上升沿跳变或下降沿跳变会引起另一个单元内容的翻转。 　　 2.3.2 幂耦合故障(Idempotent Coupling fault) 是指一个单元中上升沿跳变或下降沿跳变会迫使另一个单元内容置0或置1。 　　 2.3.3 动态耦合故障(Dynamic Coupling fault) 是幂耦合故障中的一种特殊情况，是指当一个单元发生读或写操作后，迫使另一个单元的内容为0或1。 　　 2.3.4 桥联故障(BF bridging fault)是由两个或多个单元或线短路所引起的，分为与桥联故障和或桥联故障。与桥联故障的逻辑值是两个桥联单元逻辑值的与；或桥联故障情况亦然。 　　 2.3.5 状态耦合故障(SCF State Coupling fault) 是指当一个单元处于某个状态值时，另一个耦合单元被置为0或1的故障。 　　 2.4图形敏感故障（PSF Pattern sensitive fault）是一种特殊的状态耦合故障。图形敏感故障意味着在部分存储器出现一些特定的数据时，其他部分存储器的数据会受到影响。 　　 2.5 寻址故障（AF Address decoder fault）行或列译码器可