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高压试验接线对断路器影响探索与实践

高压试验接线对断路器影响探索与实践   摘要:在高压试验中,试验接线很重要;试验接线接触的好坏直接关系到试验结果的真实性。在测试断路器回路电阻时,应在保证电流线钳与断路器接触良好情况下,尽量缩小两电压线钳间包含的断路器外部引线电阻的范围。在回路电阻测试异常的排查中,应区分电流线或电压线故障而引起测试异常情况的不同,从而进行有针对性的处理。在断路器断口并联电容的电容量介损测试中,应使加压线与被试品接触良好,避免因接触不良引起的测试误差;同时,在电容量介损测试异常时,应注意排查接线不良引起测试结果异常的可能。   关键词:试验接线;断路器;回路电阻;电容量;介损;探索与实践   中图分类号:TM561文献标识码: A 文章编号:   前言   在电力系统中断路器是重要的电气设备,起着切断或关合电流的作用。为了判断运行中断路器的健康状态,需要对断路器定期开展高压试验测试,其试验结果是设备维护决策的重要依据。当测试结果异常时,一般应查明引起异常的原因,在排除由试验方式原因引起后,可怀疑设备存在问题,应对被试设备进一步检查。   在试验结果异常时,试验接线的影响是不可忽视的一个重要因素。根据测试经验,试验接线对高压试验结果的影响较大,失真的试验结果给判断一次设备的真实状态带来障碍甚至是误判。断路器回路电阻测试和断口并联电容器的电容量/介损(Cx/tanδ)测试均是预试规程中规定的试验项目[1]。在断路器回路电阻测试中,试验接线接触不良或断线将会使试验无法正常进行;在断路器断口并联电容器测试中,试验接线的接触不良将会造成测试结果的严重失真,容易造成误判。本文将以断路器回路电阻测试和断口并联电容的电容量介损(Cx/tanδ)测试项目为例来说明接线的重要性。   1回路电阻测试   断路器回路电阻测试目的主要是判断动、静触头是否接触良好,避免在运行中断路器异常发热而造成事故。断路器导电回路的测试方法采用直流压降法,要求测试电流不小于100A,目的为了是消除断路器动、静触头间氧化膜的影响,因氧化膜在大电流下很容易击穿从而可减小测量误差。因断路器回路电阻为μ级,为了避免导线电阻和接触电阻对测试结果的影响,在回路电阻测试中采用电流线(图1中C1、C2)与电压线(图1中P1、P2)分开的接线,电压线布置在电流线的内侧方式,即四端法。测试时,对被试品施加恒定的直流电流,测试此时的被试品两端的电压,通过了计算即可得到被试品的电阻值,即为回路电阻值。      图1回路电阻测试   在断路器回路电阻测试中,试验人员接线完毕并检查无误后方可开始测试;在测试中可能会出现线路开路、阻值为零和阻值偏大情况。下面以500kV断路器回路电阻测试为例对测试及分析过程进行介绍。   1.1线路开路情况   当测试仪器显示线路开路时,试验人员在地面观察500kV断路器上的接线确实已经接好,检查断路器确实在合位,于是怀疑测试仪器有问题。试验人员用回路电阻测试仪自带的校验电阻进行检查,检验发现测试仪器可以正确检测出电阻值,说明测试仪器是完好的。   至此只有导线尚未进行排查。随后,试验人员用万用表对断路器的试验接线进行了检查。检查发现C1与P1、C2与P2是连通的,说明电流线和电压线不存在断线情况;但在测试C1与C2间的电阻值时发现其电阻值约16Ω,判断原因为断路器上试验接线未接触好,分析原因为断路器引流线上的金属氧化膜所致。重新夹接电流钳后,测试结果正常。   通过了分析,此次线路开路的原因为被测电阻超过回路电阻测试仪测试量程所致,即仪器的输出容量不能满足大电阻测试要求,电流施加不上去所致。该回路电阻测试仪的量程为0~10mΩ。   1.2阻值异常   断路器回路电阻阻值异常情况可分为阻值为零和阻值偏大两种情况。   在断路器回路电阻测试中,当测试仪器显示被测回路电阻值为0时,对测试线进行检查发现电压测试线回路不通。经分析,对于断路器回路电阻值为0的情况,其原因为断路器测试中电压线未得到电压信号。此情况可分为两种情况,一种情况为由于断路器涂漆等原因使接触不好,改换线夹搭接位置后,测试可恢复正常;另一种情况为导线断线所致,例如,试验人员在检查中用万用表测量发现一侧的电流与电压引线之间不通,动过线夹后,仍不通,可判断是由于电压线断线引起的。经更换测试线后,测试可恢复正常。   对于敞开式断路器回路电阻值,规程要求其不大于制造厂规定值的120%。当测试数值超过此范围时,应排除接线的影响,可通过变换电压线接线位置尽量减小断路器外部出线电阻的影响,并可通过断路器多次合分减小断路器触头氧化膜电阻的影响;有条件时,可采用大电流进行复测。   1.3理论分析   因断路器回路电阻测试为直流压降法测试,其电阻计算公式为R=U/I。当电流为0时,表示导

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