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黄金饰品纯度检测技术研究 　　[摘 要]随着经济水平的不断提高，市场上黄金饰品的样式、品种越来越多样化。由于制作工艺的不断进步，以假乱真的伪劣黄金饰品的数量越来越多，严重侵害了消费者的利益。因此，在不破坏黄金饰品的情况下，对饰品进行检测就显得格外重要。本文对黄金饰品纯度的检测技术进行分析研究。 　　[关键词]黄金饰品；X射线；无损检测 　　中图分类号：TG441 文献标识码：A 文章编号：1009-914X（2018）20-0094-01 　　X荧光能谱仪主要由信号处理和数据计算、样品室、X荧光探测器、X荧光激发源四个部分构成。X荧光能谱仪能够对黄金饰品进行无损检测，具有准确、快速、简便、不破坏黄金饰品的特点。 　　1、 X荧光光谱法无损检测概述 　　1.1 X荧光 　　在电子跃迁中，外层电子携带的能量高于内层电子携带的能量，电子从外层迁移到内层空穴后，将释放多余的能量。能量释放的形式是电磁波，高频电磁波的频率位于X波段上时，就是一种X射线，即X荧光。由于不同原子的电子能级存在特征性，当原子受到外界激发时，电子跃迁中的X荧光也存在特征性，存在着特定的能量与波长。 　　为了使被检测物质产生特征的X荧光，就应当选用较高能量的光子源激发。通常，光子源可以选用高能量的加速离子或电子，可以选用X射线，可以选用γ射线。通常为了进行激发，可以采取以下几种方法。首先，源激发。因为放射性同位素物质能够连续发出γ射线，所以可以激发X荧光。通常，源激发采用的放射性同位素物质包括109Cd、55Fe、244Cm、241Am等。将反射性同位素位置放置于密封的铅罐中，在铅罐上留出几十毫米或几毫米孔径的小孔，便于γ射线照射被待检测物质。信噪比高、单色性好、重量轻、体积小、可制造简易式便携的仪器，是源激发的主要特点。但是，源激发具有功率低的缺点，测量灵敏度与荧光前度较低。此外，一种放射性同位素只可以分析少量的元素，在分析更多的元素时，需要混合使用多种放射性同位素源。其次，管激发。激发源是X射线管，即是管激发。使用密封金属管作为X射线管，利用高压将高速阴极电子束打在Mo靶、W靶、Rh靶、Cu靶等阳极金属材料靶上，从而激发X射线。经过金属管的端窗或侧窗，X射线照射到待检测物质上，进而激发X荧光。因为X射线管能够发出强度较高的X射线，所以能够充分激发、测量待检测物质中的痕量元素。此外，因为能够随意调整X射线管的电流与高压，所以可以获得能量分布不同的X射线，更加有利于检测。 　　1.2 X荧光的探测 　　当光子源照射到待检测的物质上时，构成物质的不同元素将发出具有各自特征的、混和在一起的X荧光。X荧光存在特征的能量与波长，物质中产生荧光元素的浓度直接影响着荧光的强度。为了区分各个元素混和在一起的X荧光，可以采用相应的分光技术。经常使用的分光技术主要有两种：波长色散广谱技术和X荧光能谱技术。 　　X荧光能谱可以进行定性和定量分析。X荧光能谱定性分析，能够判断X荧光能谱中的荧光峰位，根据峰的能量位置推测待检测物质中含有的元素。各个元素的峰位在X荧光能谱仪上均对应着一个能量值。X荧光能谱定量分析，即根据X荧光能谱峰的计数强度和待检测物质中元素的浓度的相关性，采用相应的计算方法，依据X荧光能谱峰的计数强度确定待检测物质中元素的浓度。 　　X荧光是非可见光，是波长非常短的电磁波，通常使用探测器将X荧光的电磁波信号转化为电脉冲信号。Ge（Li）锂漂移锗晶体探测器、液氮致冷或电致冷Si（Li）锂漂移硅晶体探测器、高纯锗晶体探测器、高纯硅晶体探测器、半导体致冷Si PIN探测器、HgI2晶体探测器、充气（He，Ar，Kr等）正比计数管、NAL晶体闪烁计数器等是几种使用较广的探测器。荧光探测的能量范围、分辨率、检出限等是判断探测器性能的主要参照指标。高档探测器能够同时检测浓度不同的所有元素，分辨率通常是150～180eV。中档探测器能够检测数量较多的元素，却难以有效地检测痕量元素，分辨率通常是200～300eV。低档探测器只能检测少量的元素，难以检测物质中存在的微量元素，分辨率通常是700～1100eV。 　　1.3 X荧光能谱仪 　　目前，X荧光能谱仪的种类较多，既有能够在野外使用的便携式简易荧光能谱仪，又有能够在实验室中进行精密检测的大型X荧光能谱仪。X荧光能谱仪的工作原理都是一样的，X荧光能谱仪检测通常包括四个主要的系统：信号处理和数据计算机系统、样品室、X荧光探测器、X荧光激发源。 　　目前，X荧光能谱仪主要有便携式荧光能谱仪、小型管激发X荧光能谱仪、大型X荧光能谱仪等几种类别。首先，便携式荧光能谱仪。便携式荧光能谱仪的激发源是同位素源，具有体积小巧、携带方便的优点，适用于野外分析与现场分析，适用于大型工件鉴定与零件元素分析的鉴定。便携式荧光能