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珍珠珠层厚度测量方法探讨和实践 　　摘 要:国家为养殖珍珠的生产、贸易、质量评价等活动制定了《珍珠分级》国家标准,其上标明的珠层厚度测量方法在实际操作中可能会出现有损作业。本文阐述了在珍珠厚度检测方面,旨在为珍珠分级提供行之有效的数据特征。 　　关键词:珍珠 珍珠分级 珠层厚度 　　中图分类号:S968 文献标识码:A 文章编号:1672-3791(2011)04(c)-0226-01 　　 　　Abstract:In order to state for the production of cultured pearl,the trade of pearl and the quality evaluation,Cultured pearl grading national standards has been draught,the measuring methods of nacre thickness can be harmful.This paper expounds using undamaged nacre detector to provide effective data. 　　KeyWords:Pearl;Cultured pearl grading;Nacre thickness 　　 　　1 珍珠的结构构造 　　珍珠这种古老的有机宝石,产自珍珠贝类和珠母贝类软体动物体内,由于内分泌作用而生成的含碳酸钙与有机质的具有同心环状结构的珠粒[1]。 　　1.1 有核珍珠的结构 　　珍珠的最内层为珠核。珍珠的次内层为不定形基质层,一般紧贴于珠核表面。珍珠的次外层为碳酸钙棱柱晶体层,此处碳酸钙常以方解石形式出现[1]。珍珠的最外层为文石珍珠层,为珍珠的主要成分,这部分直接决定珍珠的品质[2]。珍珠还有一层近似透明的表层。 　　1.2 无核珍珠的结构 　　淡水养殖珍珠不像有核珍珠的结构那样在中间有一颗大的珠核,珠核外为珍珠层,而是通过壳角蛋白和珍珠层粘合构成,优质的淡水养殖珍珠自接近圆心的CaCO3的层状结晶呈同心圆环状。 　　 　　2 珍珠珠层厚度无损检测 　　《珍珠分级》国家标准对未经过辐照、染色等处理的养殖珍珠及天然珍珠进行分级,其中在珠层厚度分级标准方面,《珍珠分级》国家标准上标明的关于测量珍珠珠层厚的方法中的直接测量法即仲裁法,方法原理为把切割制备好的被检样品置于测量显微镜下,测量珠层厚度,这就是有损检测[3],只能对已经抛开或者可以抛开的珍珠进行检测,故此法不适用于大部分的珍珠商贸;故本文重点阐述的珠层无损检测方法。 　　笔者针对这一问题前往广西北海市质监局国家珍珠及珍珠制品质量监督检验中心进行调查研究,该中心现有两台不同工作原理的珍珠珠层无损检测仪,分别是View-X珍珠珠层无损检测仪及OSG-1000珍珠珠层无损检测仪。 　　View-X珍珠珠层无损检测仪为该中心自主研制开发的中国第一台珠层测厚仪,可以通过X光测定珍珠的珠层厚度,结束了无仪器可测珠层厚度的历史。这台仪器在几分钟内便可检测珠层的厚度,从而辨别珍珠的品质。View-X系列X光机操作原理是采用X射线透过被观测物品,通过增强屏和CCD图像传感器,在计算机屏幕上实时显示出被测物品的轮廓,测定珍珠内核和外径,可根据需要对珍珠圆周进行点定位,最多可达360个点定位,配合图像测量处理软件,即可测量物品的尺寸或位置关系。 　　View-X珍珠珠层无损检测仪的的优点在于可以扫描整颗珍珠。不足之处在于部分海水养殖珠层较薄,有机质较少样品不能很好分辨出珠层与珠核分界线,无法计算珠层厚度,仪器对淡水养殖珍珠的内部结构具有一定的分辨能力,但不是很理想。另外由于X射线的性质,测量人员在测量时应做好防护措施,另外不宜长时间测量。 　　OSG-1000珍珠珠层无损检测仪(Non-invasive Optical Section for Gems)为全世界第一台近红外光珍珠珠层无损成像仪,利用低功率近红外光对珍珠无损成像,照射到样品的光功率仅1mW～2mW,波长为1.3μm,无放射性,对检测工作者和珍珠样品完全无损伤,检测实验室无需放射性屏蔽,不会对工作人员产生潜在的X线放射性危害。OSG-1000采用了创新的非接触式背向散射成像技术实现了单珠检测,使用于半成品、成品珍珠首饰的测量成为可能;直观的珍珠珠层图像,准确测量珍珠珠层厚度,分辨率可达0.03mm;成像检测速度快,每个样品仅用1s～2s。 　　OSG-1000珍珠珠层无损检测仪的优点在于任何海水养殖珍珠均可快速测量出其珠层厚度,测量过程安全无辐射。不足之处在于绘制珍珠珠层厚度长度直线是为手工绘制,存在误差,另外不能像View-X珍珠珠层无损检测仪那样进行360度全方位扫描